Occasion VEECO SXM 320 #36976 à vendre en France

Le microscope à balayage VEECO SXM 320 est un outil avancé pour étudier la morphologie de surface, mesurer les propriétés nanoscopiques et effectuer la spectroscopie des matériaux. Il offre des performances optiques et d'imagerie exceptionnelles, ce qui en fait un excellent choix pour analyser les structures nanométriques à l'échelle du micro et du nanomètre. SXM 320 est un microscope compact entièrement automatisé avec un étage motorisé intégré et des étages de contact d'échantillons programmables. Il dispose d'un système d'imagerie à micro- et nano-échelle très polyvalent qui comporte des capacités intégrées d'optique de haut et de bas, de balayage numérique, de microscope à force atomique (AFM) et de dépôt de couche atomique (ALD). L'instrument peut être configuré avec une large gamme d'accessoires, y compris l'optique intégrée et les composants analytiques. VEECO SXM 320 supporte quatre modes d'imagerie : photomicrographie, microscopie à force atomique (AFM), microscopie électronique à balayage (SEM) et profilométrie optique (OP). En outre, l'instrument peut être mis à niveau avec d'autres options logicielles et matérielles, comme un préchargeur d'échantillons automatisé. SXM 320 permet aux utilisateurs de capturer, analyser, mesurer et présenter une grande variété de propriétés et de phénomènes à l'échelle du nanomètre. Ses capacités complètes d'imagerie et d'analyse comprennent le micromachining, la nanotechnologie, la spectroscopie et l'imagerie de la morphologie de surface. Cet instrument avancé de nano-imagerie possède également des capacités intégrées de gestion de connexion à distance, de régulation de la température, d'acquisition et de stockage de données. VEECO SXM 320 offre des performances exceptionnelles en ce qui concerne la résolution de ses capacités d'imagerie - les images ont une résolution de 0,3 nm et un champ de vision allant jusqu'à 100 μ m. Le microscope est bien adapté aux applications de mesure à l'échelle nanométrique, telles que l'imagerie avancée, la visualisation AFM, la profilométrie optique et la mesure de la taille des particules. Il est également très précis et précis avec des précisions de 0,5 nm sur un seul pixel. Le microscope à balayage SXM 320 est un instrument de pointe conçu pour répondre aux besoins de recherche, de développement et d'applications industrielles de pointe. Combinant des performances optiques et d'imagerie exceptionnelles avec des capacités microscopiques de pointe, VEECO SXM 320 représente le choix idéal pour étudier et analyser les propriétés et les phénomènes à l'échelle des nanomètres.