Occasion ZYGO / IBM SXM-200 #150544 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage ZYGO/IBM SXM-200 (SEM) est un outil d'imagerie avancé utilisé pour l'imagerie microscopique dans les domaines des sciences des matériaux, de la biologie et de l'ingénierie. Il a une haute résolution, un débit élevé, et un taux de rafraîchissement rapide. Il est équipé d'un canon de nouvelle génération FAST scan micron-spot, d'un appareil photo CCD monochrome et d'une nouvelle scène miniaturisée de positionnement X-Y. Le SEM dispose d'un équipement électrostatique haute résolution qui offre une capacité d'imagerie détaillée. L'énergie des électrons du faisceau est réglable jusqu'à 30KV pour l'imagerie d'échantillons à haut niveau de sensibilité, même de matériaux à faible numéro atomique. La puissance élevée du faisceau d'électrons permet l'imagerie à plus haute résolution de petites caractéristiques, assurant des images détaillées de l'échantillon. IBM SXM-200 est également équipé d'un étage d'échantillons automatisé de 10 mm. Cette étape permet de déplacer l'échantillon dans les directions X et Y par incréments d'un micron, ce qui permet à l'utilisateur d'avoir une image précise de zones extrêmement petites. Cette étape est également équipée d'un encodeur haute résolution et d'un système de contrôle de position absolu, afin de s'assurer que les fonctionnalités de même minute sont capturées avec précision. ZYGO SXM-200 est livré avec une unité automatisée pour contrôler et surveiller la contamination des échantillons. Cette machine est conçue pour minimiser la possibilité de contamination des échantillons pendant le balayage, ainsi que pour réduire la contamination de la chambre de prélèvement entre les balayages. En outre, SXM-200 offre une variété d'outils optionnels d'analyse et de mesure. Le spectromètre à rayons X offre un large éventail de capacités analytiques, de l'analyse élémentaire à l'analyse chimique. Les détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffuseurs offrent une grande sensibilité pour l'imagerie de surface et pour l'imagerie de couches proches de la surface. ZYGO/IBM SXM-200 est facile à utiliser et à entretenir, et il est idéal pour l'analyse de matériaux très détaillés. Cela en fait un outil important pour les scientifiques et les ingénieurs dans les domaines des sciences des matériaux, de la biologie et de l'ingénierie.