Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 3070 Series III #187824 à vendre en France

ID: 187824
In-circuit tester Upgraded from 3070-II (1) PC (includes keyboard, mouse and display) (2) ASRU C Cards (2) Control XT Cards (18) Hybrid Double Density Cards (2592 Test Nodes) (2) 6624A DUT Supplies (1) Printer.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Série 3070 III est un équipement d'essai de carte PC haut de gamme réputé pour sa précision, son efficacité et sa souplesse sans pareils pour assurer la qualité et la fiabilité des cartes de circuit imprimé (PCB) et des composants électroniques. Cette solution de test avancée intègre une technologie de pointe et des fonctionnalités innovantes pour répondre aux exigences exigeantes des procédés de fabrication électroniques modernes. Au cœur du système HP 3070-III se trouve une plate-forme matérielle sophistiquée qui se compose d'une tête d'essai, d'un appareil d'essai et d'instruments d'essai spécialement conçus pour les essais de PCB à haute vitesse et à haut volume. La tête d'essai est équipée d'une matrice de broches d'essai qui entrent en contact avec divers points du PCB testé, permettant des mesures et des évaluations précises des caractéristiques et fonctionnalités électriques. Le dispositif d'essai maintient solidement le PCB en place pendant les essais et assure des connexions cohérentes et fiables entre la tête d'essai et le PCB. L'un des points forts de l'unité AGILENT 3070 III réside dans sa suite logicielle robuste, qui offre un ensemble complet d'outils de développement et de débogage des tests pour rationaliser le processus de programmation des tests et améliorer la couverture et la précision des tests. Les capacités logicielles de la machine comprennent de puissantes interfaces de programmation, des logiciels de test exécutifs et des environnements de développement intégrés qui permettent aux utilisateurs de créer, d'optimiser et d'exécuter facilement des programmes de test complexes. En outre, l'outil KEYSIGHT 3070 III prend en charge un large éventail de méthodologies et de techniques de test, y compris les tests en circuit (TIC), les tests fonctionnels, les tests d'analyse des limites et d'autres stratégies de test personnalisées pour répondre à diverses exigences et spécifications de test. Il offre également des capacités de débogage avancées telles que la surveillance des tests en temps réel, l'analyse des signaux et l'enregistrement des données pour accélérer l'identification et la résolution des défauts et des problèmes dans les assemblages de PCB. L'architecture flexible de l'actif permet une intégration transparente avec les équipements de test externes, les systèmes de fabrication et les logiciels d'entreprise, facilitant l'interopérabilité et l'échange de données dans l'environnement de production. De plus, le modèle AGILENT 3070-III est équipé de fonctionnalités d'automatisation intégrées et de capacités de réseautage qui permettent l'accès à distance, le séquençage automatisé des tests et le partage des données pour améliorer la productivité et l'efficacité. En termes de performance, l'équipement HEWLETT-PACKARD 3070-III offre une couverture de test, une précision et une répétabilité exceptionnelles, grâce à ses capacités de mesure avancées, son exécution à haute vitesse et ses algorithmes de test innovants. Ses composants matériels et logiciels de pointe garantissent des temps de test rapides, un diagnostic rapide des défauts et des débits élevés, ce qui en fait une solution idéale pour les environnements de fabrication de PCB à haut volume. Dans l'ensemble, la KEYSIGHT 3070 Series III représente l'apogée des systèmes de test de cartes PC, offrant une précision, une fiabilité et une efficacité inégalées pour garantir la qualité et l'intégrité des assemblages électroniques dans l'industrie électronique rapide et compétitive. Ses caractéristiques avancées, son design robuste et ses capacités polyvalentes en font un choix privilégié pour les fabricants d'électronique qui cherchent à optimiser leurs processus de test et à obtenir une qualité et des performances supérieures.
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