Occasion AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist 3070 Series III #293654215 à vendre en France
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ID: 293654215
Test system
Chassis
Blower / Door assembly
Internal vacuum valve
External vacuum manifold
Guide probe
6624A Quad output DUT power supply
82357B HPIB Adapter (for DUT Power supply)
Swinging arm manipulator
Display
Keyboard tray
Motherboard
Panel
Cage
Cabling
System card assembly
1135C Power Distribution Unit (PDU)
Module Power Supply Unit (MPU)
Spare parts included:
Qty / Part number / Description
(2) / 03066-66532 / ASRU-C Cards
(1) / N1807-66500 / ASRU-N Card
(3) / 03066-63603 & E9900-63602 / System card and clam shell power supply assembly
(2) / E4000-66203 / Module Power Supply Unit (MPU), Power One version
(2) / N1140-80003 / Module Power supply Unit (MPU), S3/5 Astec version
(2) / E4033A/B / Pin verification fixture
(1) / B180L / Controller with UNIX 10.2 and BT 5.21
(1) / RP5800 / PC Controller.
HP/AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT La Medalist 3070 Series III est un équipement polyvalent et robuste offrant des tests de circuits à vitesse réduite. Ce design robuste et fiable est utilisé pour un large éventail d'applications. Il supporte jusqu'à 512 noeuds de test, fournissant des capacités de test d'intégrité du signal. Le système HP Medalist 3070 Series III contient un ordinateur central et une seule carte d'interface réseau PC/Windows hôte. Cette unité est équipée d'un contrôleur central contenant des logiciels de contrôle de processus, d'acquisition de données et de flux de test. Le contrôleur central assure l'acquisition analogique et numérique à grande vitesse, le conditionnement du signal et la commutation du signal. De plus, le contrôleur central AGILENT Medalist 3070 Série III contient des capacités de génération de modèles de test adaptatifs. La machine Medalist 3070 série III de HEWLETT-PACKARD permet aux ingénieurs d'essai de définir les modules limites et les exigences du noeud en fonction de la conception du circuit imprimé. Chaque module frontière a la capacité de supporter 128 broches et deux motifs de test numériques. Selon la conception et les exigences, plusieurs modules limites peuvent être utilisés dans un seul outil de test. KEYSIGHT Medalist 3070 Series III est livré avec un logiciel qui permet aux ingénieurs de gérer efficacement leur stratégie de test. Cela comprend la programmation des paramètres du modèle, la réalisation de mesures d'intégrité du signal et d'acquisition de données, et la création de diagrammes de flux de test. Les fonctionnalités avancées telles que les ajustements de seuil de précision, la génération de motifs logiques et la caractérisation de vitesse sont également prises en charge. Medalist Série 3070 III offre une flexibilité de conception améliorée pour maximiser la couverture et la précision des tests. L'interface utilisateur avancée permet aux ingénieurs de test de programmer rapidement et facilement les paramètres de test. L'équipement est bien adapté pour les grandes séries de production, fournissant un débit élevé et des opérations peu coûteuses. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Le système Medalist 3070 Series III permet de minimiser les erreurs induites par les testeurs, améliorant la qualité du test pour les conceptions de cartes de circuits imprimés critiques. En outre, l'unité offre une répétabilité et une précision améliorées de la machine, ce qui la rend bien adaptée aux applications de test en fin de ligne. L'outil de test AGILENT/HP Medalist 3070 Série III est un atout fiable et efficace de test de carte de circuit, capable de répondre à un large éventail d'exigences de test. Grâce à l'amélioration de la répétabilité, de la précision et de la flexibilité, l'équipement AGILENT Medalist 3070 Série III est bien adapté aux applications complexes de test sur ordinateur.
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