Occasion ACCRETECH / TSK FP 3000 #293637098 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
FP 3000
ID: 293637098
Taille de la plaquette: 6"-8"
Style Vintage: 2017
Prober, 6"-8" Frame, 12" Automatic loading With wafer ID reader Cassette, 25 Slots Prober card changer Self teach auto align Automatic probe cleaning and continuity pad Operating system: Windows 2000 / Windows XP / Windows 7 2017 vintage.
ACCRETECH/TSK FP 3000 est un équipement technologique de pointe conçu pour la détection et l'essai de haute précision des dispositifs semi-conducteurs. Il dispose d'une gamme d'outils de diagnostic et d'analyse intégrés qui permettent de tester des dispositifs semi-conducteurs avancés de manière plus complète que les méthodes d'essai traditionnelles. Le système est équipé d'un étage XYZT 4 axes qui offre un contrôle de mouvement rapide et précis, permettant des processus à grande vitesse sur une variété de tailles de substrat. De plus, l'unité utilise également différents outils de diagnostic afin d'atteindre le plus haut niveau de précision et de précision. Ces outils comprennent des systèmes de vision avancés pour l'alignement des bords, la microscopie optique pour l'analyse des défauts, le noyau de test électrique avancé pour les essais FET et MOSFET, et l'imagerie laser pour la classification et l'analyse des défauts. Les capacités de vision avancées du TSK FP 3000 permettent un meilleur contrôle de la vue, permettant un alignement plus rapide et plus précis de la plaquette et des composants. En outre, la machine dispose également d'un outil optique pour assurer une visualisation optimale de la surface du dispositif pendant la manipulation des plaquettes. De plus, les outils de microscopie optique de l'actif peuvent détecter des défauts jusqu'à quelques microns et aider à les classer dans diverses catégories telles que les courts, les ouverts et/ou d'autres défauts complexes. En outre, le modèle est livré avec des capacités de test électrique intégrées pour les essais FET et MOSFET, ce qui signifie que les appareils fabriqués avec ces technologies peuvent être testés plus efficacement et plus précisément que si les méthodes d'essai traditionnelles étaient utilisées. En outre, l'équipement offre également des capacités d'imagerie laser, ce qui facilite l'identification, la classification et l'analyse des défauts sur les plaquettes et les appareils. En bref, ACCRETECH FP 3000 est un système de prober idéal pour tout fabricant ou chercheur qui a besoin d'un outil de test avancé et fiable. Ses caractéristiques et capacités garantissent le plus haut niveau de précision et d'efficacité en matière de contrôle et de test des dispositifs semi-conducteurs. Cette unité offre un maximum de précision, de rendement, de fiabilité et de flexibilité afin d'assurer des résultats optimaux.
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