Occasion ACCRETECH / TSK MHF 300 #9243758 à vendre en France

ACCRETECH/TSK MHF 300 est un prober conçu pour mesurer avec précision et rapidité les paramètres des wafers, IC et autres dispositifs semi-conducteurs. C'est un équipement entièrement automatisé capable de sonder et de tester de haute précision les IC 3D. Le prober comprend un certain nombre de composants matériels et logiciels, dont un plan vertical transversal à 7 couches et un système de traitement de données embarqué, afin d'obtenir des résultats de mesure précis et efficaces. Le plan vertical de TSK MHF 300 se compose d'une fixation, d'une entretoise réglable, d'une tête de pince à induction et de coussins d'air. L'installation est une plate-forme pour accueillir le CI ou la plaquette. L'espaceur réglable est conçu pour s'adapter à la largeur du CI ou de la plaquette, permettant la mise en place de la tête de pince. La tête d'induction tient des broches alignées qui sont insérées dans la plaquette/IC pour mesurer ses paramètres. Le coussin d'air aide à éviter tout contact indésirable entre la tête de pince et le IC/wafer. ACCRETECH MHF 300 dispose d'une unité de traitement de données embarquée, qui comprend un réseau de portes programmables sur le terrain (FPGA), un circuit intégré spécifique à l'application (ASIC) et une puce de contrôleur de traces de données (TTC). Cette machine assure une analyse rapide et précise des données, fournissant des résultats de mesure précis. Le FPGA permet de traiter rapidement les données pendant que l'ASIC les compile pour générer des résultats en temps réel. Le CTT permet le stockage et l'analyse de multiples échantillons de données recueillis au cours du processus de mesure. De plus, le MHF 300 offre une grande dynamique et une large réponse en fréquence. Les broches utilisées dans le prober sont équipées d'une caméra de cinq gigapixels, permettant des mesures de haute précision. La caméra est également utilisée pour détecter les mouvements fins et les petits déplacements pour garantir des résultats précis. En outre, l'ACCRETECH/TSK MHF 300 supporte les tests de température, permettant l'évaluation de paramètres et de phénomènes dépendants de la température. TSK MHF 300 est un outil efficace pour tester avec précision et efficacité les wafers, IC et autres dispositifs semi-conducteurs. Son plan vertical et son outil de traitement de données de bord assurent une mesure et une analyse précises des données, tandis que sa grande dynamique et sa large fréquence de réponse fournissent des résultats précis. Avec l'aide de la caméra et des tests de température, il est en mesure de détecter efficacement de petites différences et perturbations pour obtenir des résultats plus précis.