Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #293615530 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober conçu pour effectuer des essais électriques non destructifs en surface. Il est conçu pour mesurer rapidement et avec précision les propriétés électriques des matériaux et dispositifs semi-conducteurs afin d'identifier les problèmes. Le prober est spécialement conçu pour répondre aux besoins de test des plaquettes minces et des dispositifs de tangage ultra-fin. Le prober dispose d'un microscope à force diélectrique (DFM) qui peut mesurer avec précision les propriétés diélectriques quasi statiques des matériaux semi-conducteurs aux basses et hautes fréquences. Il comprend également un contrôleur de température à force activée (CCFA) pour maintenir la stabilité de la température pendant le processus de mesure et d'essai. La combinaison du DFM et de l'AFTC permet de mesurer avec précision les propriétés électriques des matériaux et dispositifs semi-conducteurs indépendamment des fluctuations de température. Le prober dispose d'un microscope optique haute résolution et d'un processeur vidéo numérique qui permet à l'utilisateur d'observer les caractéristiques microscopiques de la plaquette et des dispositifs à sonder. L'appareil dispose également d'un logiciel de contrôle avancé qui fournit à l'utilisateur un contrôle intuitif sur tous les paramètres de l'appareil, y compris l'angle de test et la force pour la capture optimale du signal. Le prober comprend également un système de calibrage automatique de l'unité d'autocentrage (SUC) qui peut être utilisé pour aligner et centrer précisément la pointe des sondes sur le bord de l'échantillon. Cela permet d'éviter tout désalignement et toute vérification inexacte. Le prober comprend également plusieurs caractéristiques de sécurité qui permettent à l'utilisateur de rester en sécurité pendant les tests. Il s'agit notamment des vibrations et de la signalisation acoustique, de l'indication visuelle et d'une alarme sonore en cas de situation dangereuse. TSK UF 200 prober fournit des résultats d'essais fiables, reproductibles et précis. Il s'agit d'une solution idéale pour les essais de plaquettes, les essais architecturaux, la détection de défauts ouverts et courts, l'analyse du collage des fils, la caractérisation des appareils et la conception CAO, et la mesure des propriétés diélectriques quasi statiques des matériaux semi-conducteurs.