Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9171736 à vendre en France
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ID: 9171736
Style Vintage: 2000
Prober
RS232
GP-IB
Ambient / Hot chuck: 30 C ~ 150 C
Internal printer
External printer: No
Dual cassette: No
Single cassette
Chuck type: Gold
2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200 est un semiconducteur conçu pour fournir une précision d'alignement supérieure, un contact sans rayure et un haut degré de répétabilité. Il est conçu pour traiter un large éventail d'applications, des petits échantillons aux broches multi-densité. Le prober dispose d'un étage de mandrin avec une précision de position linéaire sous-micromètre, deux ensembles de bras de mandrin empilés qui permettent une grande capacité de plaquette et un porte-plateau de plaquette avec un faible poids et un faible coefficient de dilatation thermique matériau. Ceci permet une précision d'alignement supérieure tout en maintenant un contact sans rayure avec l'échantillon. Il y a aussi un socle de piédestal avec un intervalle de 2 millimètres entre le mandrin et les points de prélèvement, ce qui permet de réduire les tractations thermiques et les opérations d'échantillonnage flexibles. Le prober est équipé d'un système de contrôle en boucle fermée avec une résolution de 0,1 nanomètre, qui assure une grande répétabilité et stabilité lors de la sonde. Il comprend également un système embarqué d'avance pour réduire l'effet d'inertie thermique et un palier à air qui assure un bon fonctionnement et une réponse rapide. TSK UF 200 comprend également un système intégré d'analyse de rendement qui utilise des données en temps réel pour détecter les puces fuites et mal enroulées. En outre, il comprend un lanceur de programme en temps réel et une large gamme de scripts d'automatisation pour faciliter l'analyse automatique efficace des plaquettes. ACCRETECH UF200 est conçu pour fournir une précision et une répétabilité élevées dans la recherche de plaquettes, réduisant la possibilité d'endommager l'échantillon ou d'endommager le prober lui-même. En outre, il augmente les capacités d'analyse de rendement et d'automatisation, permettant aux utilisateurs d'obtenir plus de données en moins de temps. Il s'agit d'une solution idéale pour les sondes d'échantillons à haut volume ou sensibles.
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