Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9233248 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober conçu pour la détection, l'analyse et la caractérisation des appareils. Il est particulièrement bien adapté pour les essais de plaquettes semi-conductrices et de puces DRAM (Dynamic Random Access Memory), et est applicable dans un large éventail de recherche et développement (R&D) ainsi que dans des environnements de production. TSK UF 200 est muni avec une haute résolution 100X le microscope optique et CCD à haute résolution (la Charge l'Appareil Double) l'appareil photo pour capturer des images de surface et des images de sites défectueux. Il contient également un étage micropositionnel avec des axes X, Y et thêta, et un microscope optique 3D sans contact. ACCRETECH UF200 a une capacité de plaquette de 4 pouces, et une pression maximale de 10 psi/5 Bar. Il est également équipé d'un mécanisme de mandrin à vide et d'un mode d'imagerie SEM (Scanning Electron Microscope). UF 200 dispose d'une analyse des défaillances en temps réel avec un algorithme de cartographie rapide des défauts pour le suivi et l'identification des défauts. Il comprend également un équipement de saisie de données qui comprend une base de données à accès rapide pour la carte des plaquettes et l'historique des journaux de défaillance, pour améliorer la traçabilité et la caractérisation des dispositifs défaillants. UF200 fonctionne sur une paire de deux servomoteurs analogiques 12 bits combinés à une variété de types de cartes de sonde et d'autres capteurs pour analyser une variété de pièces. Il dispose d'un processeur d'image numérique exotique, de capacités d'enregistrement multidimensionnelles, et FFT (Fast Fourier Transform). Son système de vision avancé analyse et traite l'information des appareils, tandis qu'un CCD/caméra dédié fournit une rétroaction immédiate sur les résultats des tests et l'enregistrement des objets réalisables. Cela rend ACCRETECH UF 200 bien adapté à une large gamme d'applications de détection et d'analyse de défauts de dispositifs semi-conducteurs. TSK UF200 est conçu pour être fiable et performant. Il comprend une gestion de l'environnement à l'aide de filtres à concentration d'ozone et de filtres de désionisation, fournissant une surface d'échantillon exempte de contaminants pour des observations fiables. En outre, il est livré avec contrôle de température pour les échantillons sensibles à la température. ACCRETECH/TSK UF200 bénéficie également de la garantie complète TSK et d'un ensemble de services. En conclusion, ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober avancé conçu pour les besoins de détection, de caractérisation et d'analyse dans les essais de dispositifs semi-conducteurs et DRAM. Il dispose d'une multitude de fonctionnalités haut de gamme, y compris une unité de capture de données avec analyse des défaillances en temps réel et algorithmes de cartographie rapide des défauts. Sa machine de vision avancée et son processeur d'image numérique fournissent des résultats fiables, tandis que son régulateur de température intégré et son filtre à ozone offrent un environnement adapté aux échantillons sensibles à la température.