Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9255177 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un type de prober utilisé dans la fabrication et les essais de semi-conducteurs. Il s'agit d'un système avancé, ultra-précis et à haute résolution conçu pour fournir une solution optimale pour des exigences de test difficiles. Il offre des options flexibles et polyvalentes pour une variété d'applications, de la qualification des plaquettes à l'appareil ou à la détection des puces d'essai. TSK UF 200 dispose d'un microscope optique haute résolution, d'objectifs miniatures et d'un système de commande électronique avancé pour assurer un positionnement précis et précis de la sonde. Il offre deux emplacements différents : vertical et horizontal. Le placement vertical offre une stabilité supérieure, éliminant les vibrations et fournissant des résultats d'essai rapides et précis. La mise en place horizontale permet de positionner la protubérance à l'angle de positionnement optimal pour contrôler et augmenter le rendement. Le prober dispose également d'un système de vision avancé avec un capteur d'image haute résolution pour garantir des résultats précis et reproductibles. ACCRETECH UF200 est équipé de systèmes d'exploitation propriétaires sans contact qui réduisent l'usure des sondes de contact traditionnelles. Cela permet une durée de vie plus longue, un débit plus élevé, et la fiabilité. En outre, le prober a des capacités robustes d'arrêt des vibrations qui minimisent les effets des vibrations statiques et dynamiques. Cela permet la reproduction fiable de modèles de test complexes et supporte le test d'une variété d'appareils. TSK UF200 peut prendre en charge des applications haut de gamme, telles que l'inspection des défauts, le contrôle des processus, l'analyse des défaillances, le diagnostic des défauts et la prévision des rendements. Il peut également fournir une analyse 3D détaillée des circuits de détection, analysant les structures jusqu'au niveau submicronique. Le prober offre une précision et une répétabilité améliorées, grâce à sa technologie avancée de compensation rotative de balayage. Cela permet une plus grande tolérance et de meilleurs alignements de sonde, assurant des résultats d'essai cohérents. Enfin, le prober est conçu pour répondre aux exigences de haute vitesse, de haute résolution et de superposition parfaite telles que l'alignement de la couche métallique, le gonflement de surface et le vieillissement cristallin. Sa taille réduite et son fonctionnement plus facile le rendent adapté à une large gamme de R&D et à une production à grande échelle. Il est disponible en différentes configurations, selon les objectifs d'essai, la taille des plaquettes et les exigences du site. Ce prober avancé fournit des résultats fiables, reproductibles et précis, ce qui en fait un outil idéal pour les essais et la recherche sur les semi-conducteurs avancés.