Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9255180 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 200
ID: 9255180
Style Vintage: 2002
Prober Docking type: Hinge 2002 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober conçu et développé pour répondre aux exigences les plus complètes et les plus strictes pour les essais de semi-conducteurs IC sur de nombreux types et lignes de production IC. Ce prober fournit des capacités de test de précision et de sondes pour les composants de circuits et de boîtiers de haute performance. L'équipement est conçu pour satisfaire aux exigences de tous les procédés de fabrication d'IC. Il est capable de générer une sonde de profondeur à grande vitesse, une sonde fine et une sonde de contrôle de processus. En outre, sa grande zone de travail et son espace de haute station d'échantillonnage peuvent accueillir toutes sortes d'IC, y compris BGA, μ BGA et TSOP. Le système a une large gamme de sondes dynamiques, répondant aux exigences d'une variété d'exigences de conception y compris 0,020 ", 0,50 mm et 01,27 mm sondes semi-conductrices, cartes de sonde et fixations. De plus, il dispose de différentes options d'alignement et de mesure, ce qui permet d'obtenir des tests plus rapides et un rendement amélioré. L'unité dispose d'une acquisition de données à grande vitesse, offrant une flexibilité et une précision maximales tout en minimisant l'édition manuelle requise. Ce prober peut également être connecté à des dispositifs tiers, tels que des sondes et des systèmes de mesure, afin de faciliter l'acquisition et le traitement de données. En outre, il dispose d'une interface conviviale, permettant à l'utilisateur de configurer, surveiller et personnaliser les paramètres de test. La machine est capable de transporter des échantillons d'un lecteur à un outil d'essai avec précision, réduisant le besoin de temps de chargement manuel et d'instances. Cette fonctionnalité permet un quantum beaucoup plus élevé des tests au niveau des plaquettes. En outre, l'actif est hautement automatisé et implique une combinaison de paramètres de test automatisés, d'activité de flux et de vérification des erreurs en temps réel pour améliorer la précision. Le modèle offre également des valeurs de rétroaction précises pour les utilisateurs finaux d'une manière qui n'entrave pas le processus de test. Ce prober est conçu pour supporter les rigueurs d'un environnement de production, en veillant à ce que l'échantillonnage se déroule à un rythme stable et efficace. En outre, il est livré avec un équipement de contrôle complet qui permet un contrôle complet sur le processus de test IC. Ce système peut être utilisé pour surveiller la mesure exacte d'un maximum de 65 536 points de test en une seule fois avec ses capacités de transfert de données intégrées. Dans l'ensemble, TSK UF 200 prober est une solution efficace et fiable pour les tests et les sondages en IC.
Il n'y a pas encore de critiques