Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9260034 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est une solution prober spécialement conçue pour répondre aux exigences de l'industrie des semi-conducteurs. Il s'agit d'un système de sondage entièrement automatisé qui offre une précision de mesure très précise, des temps de sondage plus rapides et des performances d'essai fiables. TSK UF 200 est capable de manipuler des tailles de plaquettes allant de 200mm à 300mm, fournissant un microscope optique haute résolution pour le développement de processus, le contrôle de qualité et l'analyse de défaillance. Il peut mesurer simultanément jusqu'à 32 broches pour des résultats très précis. ACCRETECH UF200 fournit également plusieurs technologies de sonde pour supporter différents types de plaquettes. Ces technologies de sonde permettent de mesurer les caractéristiques physiques, électriques et chimiques de la plaquette, de l'échelle du micron à plusieurs millimètres. Pour les propriétés physiques, UF 200 a une capacité AFM (Atomic Force Microscopy) et SEM (Scanning Electron Microscopy). AFM permet aux utilisateurs de déterminer la topologie et la douceur d'un échantillon jusqu'à l'échelle atomique, tandis que SEM fournit des images haute résolution des détails de surface et de sous-surface des plaquettes. Les caractéristiques électriques, telles que la résistance électrique, peuvent être mesurées par FIB (Field Ion Microscope), tandis que l'ACCRETECH/TSK UF200 supporte également les techniques CV et IV pour des essais électriques plus robustes. Avec ces différentes techniques, TSK UF200 peut mesurer les centres de recombinaison, les paramètres Shockley-Read-Hall et les densités d'état d'interface entre autres. Les propriétés chimiques, telles que les états d'oxydation ou les états chimiques présents à la surface de la plaquette, peuvent être mesurées en utilisant les capacités de spectroscopie électronique Auger (AES) d'ACCRETECH UF 200. AES permet aux utilisateurs de comprendre la composition chimique de la plaquette à sonder, permettant ainsi une meilleure compréhension en termes de développement de processus et d'analyse des défaillances. Dans l'ensemble, UF200 est une solution haute performance pour les wafers prober qui est livrée avec de multiples technologies pour mesurer diverses caractéristiques physiques, électriques et chimiques des wafers semi-conducteurs. C'est un outil puissant et entièrement automatisé qui fournit des résultats de mesure très fiables et précis dans l'industrie des semi-conducteurs.