Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9283854 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober conçu pour le test électrique à haut débit des dispositifs semi-conducteurs. Ce prober est adapté pour tester une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, y compris des modules de niveau transistor, flip-chip et mémoire. Il dispose d'un système de sonde composé de quatre sondes et de quatre voies de mesure indépendantes, permettant de tester simultanément plusieurs dispositifs. Le prober utilise une technologie de mesure de la force verticale propriétaire, qui assure que les sondes restent en contact avec les dispositifs testés et qu'aucun faux contact n'est effectué. Le système avancé d'alignement de la sonde et de contrôle de la force de contact (AFCC) fournit des résultats précis et de grande précision. Le prober est également équipé d'Accro-Touching, un système breveté de toucher automatique de l'appareil, et d'analyse de réponse en fréquence, qui permet de mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques de l'appareil dynamique. TSK UF 200 prober est offert dans une configuration haute vitesse, avec un temps de réponse rapide pour des mesures précises et répétables et une large gamme d'alignement pour tester une grande variété de types d'appareils. Le prober dispose d'une interface utilisateur intuitive, avec une programmation intuitive intégrée et une fonction de compensation d'image pour un positionnement très précis. Il est également équipé d'un analyseur de défaut avancé et d'un puissant analyseur Pass/Fail pour des tests complets. ACCRETECH UF200 peut accueillir divers tests automatisés tels que l'évaluation embarquée, les tests d'appareils analogiques et numériques, ainsi que les dispositifs à mémoire haute vitesse. Il dispose d'une plate-forme logicielle intégrée, et est compatible avec une gamme de logiciels tiers et de suites de test. En outre, le prober est équipé de caractéristiques de sécurité avancées et est certifié conforme aux normes ISO 9001, ISO 14001 et CE. ACCRETECH UF 200 prober est une solution idéale pour la production à haut volume, les tests de fiabilité et l'analyse des défaillances. Il est capable d'effectuer des tests à haut débit d'une variété de dispositifs semi-conducteurs avec la plus grande précision, offrant des solutions de test rentables, et des résultats de haute qualité.