Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9283875 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober conçu pour la détection, la mesure et l'essai d'une grande variété de dispositifs semi-conducteurs. TSK UF 200 est conçu pour répondre aux exigences des applications complexes de contrôle de processus au niveau des plaquettes. Il utilise une combinaison d'imagerie au microscope double et de sondes au niveau des plaquettes pour permettre aux utilisateurs de visualiser et de mesurer les fonctionnalités jusqu'à 100 nanomètres. ACCRETECH UF200 est construit avec un étage quatre axes motorisé unique, qui est optimisé pour la précision à grande vitesse tout en maintenant une plate-forme stable qui est fiable et précis. Cela le rend idéal pour l'inspection directe de petits appareils. L'étage motorisé peut se déplacer et s'aligner dans les deux sens X et Y de manière rapide et très précise, et est compatible avec différents types de trames à fente de plaquettes avec une grande capacité de paramètres de mesure. UF 200 est également livré avec un microscope optique intégré qui est équipé d'un capteur d'image de lumière visible. Le capteur d'image est capable de capturer et d'afficher des images de topologie de surface via une caméra CCD interne. En outre, ce microscope a une fonction auto-focus intégrée et des moyens d'éclairage pour recueillir les images de la plus haute qualité disponible. Cela fournit aux clients des résultats plus précis, avec des caractéristiques plus petites, lors de la recherche et de la mesure de leurs structures d'appareil. Dans le cadre de UF200 paquet, il est livré avec deux têtes de sonde intégrées, chacune avec une résolution de balayage de 3 milligrammes. Cela le rend idéal pour des fonctions de sondes aussi petites que 100 nanomètres, avec chaque tête dotée d'un auto-mandrin dédié pour une fixation rapide et facile. Avec la conception à double tête, la disposition des échantillons peut être réduite de façon significative, ce qui entraîne des temps de sondes plus rapides et un débit accru. TSK UF200 dispose également de capacités de sondes avancées, permettant aux utilisateurs de mesurer et de tester avec précision les dispositifs au niveau atomique. Cela leur permet de détecter et d'analyser les défauts du dispositif, y compris les fuites de jonction, les variations de processus et d'autres caractéristiques du dispositif. Pour augmenter encore la précision et améliorer l'analyse des données, ACCRETECH UF 200 est livré avec un logiciel puissant, permettant l'acquisition de données en temps réel et la génération de rapports de données. Le logiciel offre également de puissantes capacités de traitement et d'analyse d'images qui permettent à l'utilisateur de détecter et d'analyser les données à un rythme rapide, ce qui aide à contrôler les processus et à analyser les défauts. Enfin, ACCRETECH/TSK UF200 dispose également d'un système unique de contrôle des vibrations et de la température, assurant une précision maximale des lectures tout en éliminant la distraction des sources externes. Cela le rend particulièrement adapté à la collecte automatisée, fiable et répétable de données.