Occasion ACCRETECH / TSK UF 200 #9364588 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200 est un prober général conçu pour l'analyse électrique, optique et de défaillance des dispositifs semi-conducteurs et des cartes de circuit. Ce prober est utilisé pour sonder et tester les connexions électriques, tester les différences thermiques et mécaniques, et effectuer des analyses optiques et des pannes automatiques et manuelles. Le TSK UF 200 offre une flexibilité et un haut niveau de précision et de reproductibilité avec une multitude de fonctionnalités. La caractéristique principale de ce prober est les indexeurs de haute précision, qui lui permettent de contrôler avec précision les axes X-Y-Z et d'assurer un positionnement fin de la sonde. Il offre également un haut degré de répétabilité, ce qui garantit qu'un résultat donné est toujours précis, même après des essais répétés. Le prober est également capable de traduire les résultats des tests en informations diagnostiques, fournissant aux utilisateurs un puissant outil d'analyse et d'interprétation. ACCRETECH UF200 est adapté à l'évaluation et à l'affinement des dispositifs ou cartes de circuits sub-microns. Il mesure l'inductance, la capacité, les caractéristiques thermiques et autres signaux haute fréquence. L'interface utilisateur permet aux utilisateurs de programmer et de modifier la séquence d'automatisation et les résultats des tests d'affichage en format graphique ou texte. Le prober est également capable de tester de grandes densités de broches à grande vitesse. En outre, UF 200 offre un certain nombre d'unités et une large gamme de taille de mandrin et de sonde, pour la manipulation même des appareils les plus petits ou complexes. Il fournit également des images et des résultats de haute qualité, permettant aux utilisateurs d'effectuer des analyses détaillées et des captures de points de test spécifiques. TSK UF200 est un prober fiable et puissant, idéal pour des applications telles que l'essai de circuits complexes et d'appareils à petite échelle. Il est capable de fournir des résultats reproductibles et précis dans un laps de temps plus court que les méthodes classiques, ce qui en fait une solution efficace pour une analyse rapide et fiable des composants électroniques.