Occasion ACCRETECH / TSK UF 200AL #9283863 à vendre en France
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ID: 9283863
Style Vintage: 2000
Prober
Platform: 93K
Floppy Disk Drive (FDD)
Hard Disk Drive (HDD)
Control rack:
Z-Axis driver
XY Servo drivers
Power control board
Video interface board
Power supply: (2) 24 V, 12 V, -12 V, 5 V, 48 V
VME Rack:
Slot / Board
Slot 1 / Master CPU
Slot 4 / VGA Card
Slot 5 / VGA Card
Slot 6 / COGNEX Board
Slot 8 / PIO Board
Slot 10 / GPIB Board
Slot 11 / 5-Channel PGEN board
Slot 14 / DISP Sensor
Slot 16 / Slave CPU
Slot 17 / Loader I/O
Slot 18 / Loader PGEN
Main body read side:
Driver board
F-Server driver
Theta server driver
Moire divider board
Loader side:
Loader driver board
OCR Camera
Loader sensor board
Loader axis board
Cassette cover
Elevator motor driver
Sub-chuck rotation motor driver
Turntable motor driver
(2) Transfer motor driver arms
Pre-alignment sensor
(2) Arms
Sub-chuck
Inspection tray
Temperature controller
Elevator / Clamper
Chuck top
Z-Unit
(2) XY Axis screw and motors
F-Axis screw
E1, E2 Camera module
Touch panel
Keyboard and joystick
Keyboard control board
Alarm lamp pole
Miscellaneous:
Free stopper (Cassette cover)
Valve
Chiller
Tie rod for loader / Main body
2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200AL prober est un équipement de pointe utilisé pour la sondes de dispositifs semi-conducteurs, fournissant une solution complète pour sonder et tester des dispositifs individuels. Ce système fournit une solution de sondage intelligente permettant à l'utilisateur de fournir des données de test avec précision et rapidité. TSK UF200AL emploie un oscilloscope de promotion et numérique complètement numérique de 120 MHz, en livrant le chronométrage de l'exactitude et de l'exactitude d'alignement de +/-5ns. Cela le rend adapté aux applications de test à grande vitesse et à la mesure de dispositifs simples. Il offre également une capacité d'analyse automatisée du signal, permettant de multiples passes d'essai et une répétabilité précise des résultats. L'ensemble sonde est constitué d'une carte prober et d'une lentille optique télécentrique. La carte prober est le composant central de la machine et contient un outil intelligent d'analyse de signal. Il est chargé de contrôler la trajectoire du signal et l'analyse du signal. La trajectoire du signal se compose de moteurs pas à pas de haute précision, de transducteurs de précision et d'un atout de haute précision pour un alignement précis. L'ensemble optique de lentilles télécentriques utilise un faisceau lumineux pour détecter et mesurer avec précision le signal d'un appareil sans s'écarter du chemin optique idéal. Ceci assure une mesure précise du signal du dispositif, même dans des conditions extrêmes. De plus, cette lentille permet à l'utilisateur d'ajuster les variables, telles que la puissance optique, l'intensité lumineuse et la taille du faisceau optique, pour des performances optimales. ACCRETECH UF 200 AL est également équipé d'une interface utilisateur interactive qui permet à l'utilisateur de programmer des paramètres de test d'appareil et d'analyse de signal. Cela facilite la mise en place de tests et d'un environnement de test personnalisé. Le modèle fournit également une large gamme de types de tests, tels que DC, Dynamic et Noise tests, permettant à l'utilisateur de simuler une variété d'environnements de test. ACCRETECH/TSK UF 200 AL dispose d'une base de données intégrée pour stocker les résultats, et l'équipement fournit des capacités étendues d'enregistrement et de déclaration des données. La base de données peut être consultée via Ethernet ou Wi-Fi, permettant aux utilisateurs de rester au courant de leurs résultats de sondages et de tests en temps réel. Globalement, ACCRETECH UF200AL prober est une solution complète pour les applications de sondes et de tests. C'est un système avancé qui est capable de fournir des résultats précis et reproductibles dans une gamme d'applications. Sa capacité à ajuster plusieurs variables en fait une unité idéale pour diverses applications, allant des expériences scientifiques et techniques à l'évaluation des composants et à la caractérisation des dispositifs.
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