Occasion ACCRETECH / TSK UF 200AL #9283863 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 200AL
ID: 9283863
Style Vintage: 2000
Prober Platform: 93K Floppy Disk Drive (FDD) Hard Disk Drive (HDD) Control rack: Z-Axis driver XY Servo drivers Power control board Video interface board Power supply: (2) 24 V, 12 V, -12 V, 5 V, 48 V VME Rack: Slot / Board Slot 1 / Master CPU Slot 4 / VGA Card Slot 5 / VGA Card Slot 6 / COGNEX Board Slot 8 / PIO Board Slot 10 / GPIB Board Slot 11 / 5-Channel PGEN board Slot 14 / DISP Sensor Slot 16 / Slave CPU Slot 17 / Loader I/O Slot 18 / Loader PGEN Main body read side: Driver board F-Server driver Theta server driver Moire divider board Loader side: Loader driver board OCR Camera Loader sensor board Loader axis board Cassette cover Elevator motor driver Sub-chuck rotation motor driver Turntable motor driver (2) Transfer motor driver arms Pre-alignment sensor (2) Arms Sub-chuck Inspection tray Temperature controller Elevator / Clamper Chuck top Z-Unit (2) XY Axis screw and motors F-Axis screw E1, E2 Camera module Touch panel Keyboard and joystick Keyboard control board Alarm lamp pole Miscellaneous: Free stopper (Cassette cover) Valve Chiller Tie rod for loader / Main body 2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200AL prober est un équipement de pointe utilisé pour la sondes de dispositifs semi-conducteurs, fournissant une solution complète pour sonder et tester des dispositifs individuels. Ce système fournit une solution de sondage intelligente permettant à l'utilisateur de fournir des données de test avec précision et rapidité. TSK UF200AL emploie un oscilloscope de promotion et numérique complètement numérique de 120 MHz, en livrant le chronométrage de l'exactitude et de l'exactitude d'alignement de +/-5ns. Cela le rend adapté aux applications de test à grande vitesse et à la mesure de dispositifs simples. Il offre également une capacité d'analyse automatisée du signal, permettant de multiples passes d'essai et une répétabilité précise des résultats. L'ensemble sonde est constitué d'une carte prober et d'une lentille optique télécentrique. La carte prober est le composant central de la machine et contient un outil intelligent d'analyse de signal. Il est chargé de contrôler la trajectoire du signal et l'analyse du signal. La trajectoire du signal se compose de moteurs pas à pas de haute précision, de transducteurs de précision et d'un atout de haute précision pour un alignement précis. L'ensemble optique de lentilles télécentriques utilise un faisceau lumineux pour détecter et mesurer avec précision le signal d'un appareil sans s'écarter du chemin optique idéal. Ceci assure une mesure précise du signal du dispositif, même dans des conditions extrêmes. De plus, cette lentille permet à l'utilisateur d'ajuster les variables, telles que la puissance optique, l'intensité lumineuse et la taille du faisceau optique, pour des performances optimales. ACCRETECH UF 200 AL est également équipé d'une interface utilisateur interactive qui permet à l'utilisateur de programmer des paramètres de test d'appareil et d'analyse de signal. Cela facilite la mise en place de tests et d'un environnement de test personnalisé. Le modèle fournit également une large gamme de types de tests, tels que DC, Dynamic et Noise tests, permettant à l'utilisateur de simuler une variété d'environnements de test. ACCRETECH/TSK UF 200 AL dispose d'une base de données intégrée pour stocker les résultats, et l'équipement fournit des capacités étendues d'enregistrement et de déclaration des données. La base de données peut être consultée via Ethernet ou Wi-Fi, permettant aux utilisateurs de rester au courant de leurs résultats de sondages et de tests en temps réel. Globalement, ACCRETECH UF200AL prober est une solution complète pour les applications de sondes et de tests. C'est un système avancé qui est capable de fournir des résultats précis et reproductibles dans une gamme d'applications. Sa capacité à ajuster plusieurs variables en fait une unité idéale pour diverses applications, allant des expériences scientifiques et techniques à l'évaluation des composants et à la caractérisation des dispositifs.
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