Occasion ACCRETECH / TSK UF 200R #293591573 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200R est un distributeur de plaquettes haute performance qui a été développé pour répondre aux exigences de la production moderne de dispositifs semi-conducteurs et de la recherche avancée. TSK UF200R prober est un équipement automatisé et multifonctionnel qui peut être utilisé pour inspecter et tester une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, allant des dispositifs MEMS ultra-sensibles aux assemblages complexes avancés de plaquettes. L'ACCRETECH UF 200 R dispose d'un mécanisme à cinq axes avancé, offrant une précision supérieure et une exploration à grande vitesse sur l'ensemble de son domaine de travail. Ce système permet de sonder à grande vitesse n'importe quelle structure d'essai sans avoir à régler manuellement l'alignement de la sonde. Avec l'unité optionnelle de métrologie optique, ACCRETECH/TSK UF 200 R peut mesurer avec précision des distances allant jusqu'à huit microns. La machine de métrologie optique avancée d'UF 200R consiste en une zone de mesure personnalisable, qui est mesurée avec un outil laser sans contact et ultra précis. ACCRETECH UF200R dispose également d'un actif de zoom auto-zoom intégré, qui zoome automatiquement sur la zone d'intérêt lors de la mesure. Le modèle offre également des capacités de micro-inspection quantitative avancées, permettant la capture d'images nettes à des grossissements allant jusqu'à 500 fois. L'UF 200 R est polyvalent et capable de recevoir une large gamme de configurations de sonde. Il peut être utilisé pour tester des dispositifs plans et 3D avec un choix de jeux de sondes, y compris des sondes à cantilever, des sondes de contact parallèles ou des sondes de bosse au niveau de la plaquette. Cela garantit que la solution de sondage optimale pour toute configuration de test est disponible. Il supporte également une large gamme de tailles de plaquettes et de substrats, y compris GaAs, SiC et InP. En outre, TSK UF 200R propose un équipement intégré de vision machine, avec une caméra CCD intégrée, permettant une inspection visuelle entièrement automatisée des structures d'essai. Il prend également en charge une gamme d'options d'imagerie, y compris les mesures de champ lumineux/sombre, le contrôle du contraste et l'imagerie avec polarisation, ainsi que l'interférométrie pleine lumière blanche. ACCRETECH UF 200R est facilement contrôlé et automatisé grâce à des interfaces ouvertes, y compris des protocoles de communication multiples, permettant aux utilisateurs d'intégrer facilement le système dans leurs lignes de production existantes. Enfin, UF200R est construit avec des composants de haute qualité et est soutenu par une équipe d'assistance technique complète, assurant un fonctionnement fiable et d'excellentes performances. Conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes, le TSK UF 200 R est l'une des meilleures solutions unitaires sur le marché de la sondes et des essais de dispositifs semi-conducteurs.