Occasion ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335 à vendre en France
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Vendu
ID: 9269335
Style Vintage: 2016
Prober
Nickel hot chuck top
Temperature controller
Single cassette
Cleaning unit
No APC
No OCR
2016 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200R est un microscope électronique à balayage à sonde spécifique (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution pour l'analyse des défaillances, la caractérisation des matériaux et la surveillance des processus. Son électronique numérique intégrée et son fonctionnement convivial font de TSK UF200R le choix idéal pour de nombreuses applications SEM. ACCRETECH UF 200 R offre un système de détection d'un courant e-faisceau allant jusqu'à 150nA, une résolution de tache source de 1,7nm, jusqu'à 20,000X grossissement, et un champ de vision allant jusqu'à 10mm. Il est également équipé d'un guide de faisceau de visée et d'un réticule numérique, qui permettent aux utilisateurs de localiser facilement les régions d'intérêt. Il peut également représenter des échantillons jusqu'à 200nm d'épaisseur avec un LOD de 20nm. TSK UF 200 R dispose également d'un étage incliné à angle variable qui permet une large gamme de mesures d'angle. Il comprend un système de mesure intégré pour enregistrer les données avec précision et rapidité, et permet aux utilisateurs de sélectionner l'épaisseur de l'échantillon, le mode d'observation, de tracer une forme et de basculer entre différents modes d'excitation - tous à partir de la même interface. En outre, UF 200 R est livré avec un ensemble complet d'imagerie et d'analyse, qui comprend un éditeur d'images, un marqueur, un contrôle qualité, une analyse spectrale, un effet cinématique et un contrôle couleur. Il fournit également un large éventail d'outils analytiques pour effectuer des micro-analyses de rayons X, compactage optique, cartographie élémentaire, amélioration du contraste d'image, et plus encore. ACCRETECH/TSK UF 200 R est capable d'effectuer même les tâches d'imagerie et d'analyse SEM les plus complexes avec facilité et efficacité. Sa conception compacte, son balayage rapide et ses logiciels sophistiqués en font l'outil idéal pour le contrôle de la qualité, l'analyse des défaillances, la caractérisation des matériaux et la surveillance des processus.
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