Occasion ACCRETECH / TSK UF 200S #150857 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober est un système prober avancé conçu spécifiquement pour contrôler les performances et la qualité de production des dispositifs semi-conducteurs. Ce prober peut mesurer rapidement et avec précision la planéité de surface, la température, l'humidité, la déformation, les vibrations, la déformation et d'autres paramètres pour divers substrats, cadres et autres composants connexes. TSK UF200S utilise un algorithme de numérisation multi-canaux innovant et fiable qui assure l'acquisition et l'analyse de données précises et précises. ACCRETECH UF 200 S est conçu avec des composants modulaires qui permettent aux utilisateurs de personnaliser leurs besoins spécifiques. Il dispose d'un processeur puissant avec une grande capacité de mémoire qui permet l'acquisition et l'analyse de données plus rapide. Le scanner est intégré avec une caméra CCD et un microscope intégré avec une lentille de zoom pour fournir des images haute résolution de l'échantillon testé. Son étage de microscope réglable peut se déplacer selon les directions des axes x, y et z. Il permet une gamme extrêmement large de mesures, telles que des images à haute résolution de l'échantillon, des mesures angulaires et linéaires, la planéité de surface, la surface, l'inclinaison, et d'autres paramètres. TSK UF 200 S comprend également une variété de modules de tête d'essai et une gamme d'accessoires de mesure. En s'intégrant à ces modules, les utilisateurs peuvent facilement créer un système de test complet et optimiser leur processus de test. Il offre également des logiciels puissants qui fournissent aux utilisateurs un ensemble complet de fonctions pour le matériel, le traitement et l'analyse des données, les rapports et d'autres fonctionnalités. ACCRETECH/TSK UF200S dispose d'une large gamme de fonctionnalités qui permettent à l'utilisateur de mesurer diverses propriétés de l'échantillon rapidement, avec précision et fiabilité. Il offre une grande surface d'échantillonnage jusqu'à 400 millimètres carrés et une résolution de balayage précise jusqu'à 0,5 nanomètres. Il peut également mesurer les variations de hauteur jusqu'à 1 nanomètre. De plus, sa précision de positionnement assure un positionnement précis de l'échantillon sur le probère. De plus, un temps de balayage à grande vitesse de 10 ms permet aux utilisateurs de mesurer rapidement une grande quantité d'échantillons. Dans l'ensemble, ACCRETECH UF 200S est un système prober avancé avec une large gamme de fonctionnalités pour aider à mesurer avec précision les performances et la qualité de production des dispositifs semi-conducteurs. Il offre un algorithme de balayage précis et fiable, des composants modulaires et des logiciels puissants qui rendent les tests et les analyses plus faciles et plus efficaces. UF 200S est un choix idéal pour les entreprises qui cherchent à maximiser la précision et l'efficacité de leur processus de test.