Occasion ACCRETECH / TSK UF 200S #9270790 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200S est un microscope à force atomique (AFM) utilisé pour sonder des structures de matériaux nanométriques. TSK UF200S est un AFM à haute résolution, à faible bruit avec une grande taille d'échantillon qui le rend adapté pour des applications dans les recherches sur les semi-conducteurs, biologiques et les matériaux. L'AFM est conçu pour mesurer les dimensions des caractéristiques nanométriques avec un haut degré de précision. L'ACCRETECH UF 200 S est équipé d'un ZDrive haute vitesse. Cette fonctionnalité permet un balayage rapide des échantillons et une meilleure résolution temporelle. Le ZDrive est également utilisé pour contrôler les paramètres de balayage, permettant à l'utilisateur de faire des mesures rapides et précises. En outre, l'ACCRETECH/TSK UF 200 S a une haute résolution de sonde et une structure sonore faible, permettant à l'utilisateur de mesurer avec précision des caractéristiques allant jusqu'à quelques nanomètres de hauteur et de largeur. Une autre caractéristique de l'UF 200 S est sa capacité d'imagerie de haute qualité. L'AFM utilise une sonde à cantilever et dispose d'une imagerie de résolution d'un pixel. Ce système est capable de produire des images de nanostructures avec une grande précision. De plus, l'AFM dispose également d'une chambre thermique intégrée qui peut être utilisée pour étudier les propriétés thermiques des matériaux en surveillant leurs profils de température. UF200S dispose également d'une suite logicielle avancée qui offre un large éventail de fonctionnalités pour l'exploitation et l'analyse d'images AFM. Ce logiciel permet à l'utilisateur de mesurer et d'analyser facilement les caractéristiques topographiques, telles que la rugosité de surface, la hauteur et le profil des marches, et la largeur des lignes. En outre, le logiciel fournit également des outils d'analyse avancés tels que la transformée de Fourier, la moyenne Z, et le montage de profil de ligne. Enfin, ACCRETECH UF200S est bien adapté aux applications à haut débit. Ceci est dû à son flux de travail de balayage automatisé, qui permet d'analyser rapidement un grand nombre d'échantillons. En outre, l'AFM dispose également de divers composants matériels qui permettent l'acquisition efficace de données, permettant à l'utilisateur de gagner du temps et des ressources. Dans l'ensemble, TSK UF 200 S est un système AFM avancé conçu pour mesurer les caractéristiques nanométriques. Ses niveaux élevés de précision et de résolution le rendent adapté aux applications de recherche dans les domaines des matériaux, biologiques et semi-conducteurs. De plus, son flux de travail automatisé et ses logiciels avancés le rendent bien adapté aux applications à haut débit.