Occasion ACCRETECH / TSK UF 200SA #9194869 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200SA est un distributeur de plaquettes conçu pour examiner rapidement les performances électriques et physiques des composants semi-conducteurs au niveau microscopique. Il est capable de tester jusqu'à deux cents échantillons indépendamment ou en série et peut analyser à la fois les interconnexions et les plots du dispositif. Son système de sondes avancé est capable d'atteindre des vitesses allant jusqu'à 50kHz et offre une résolution maximale de 5um. Le cadre de TSK UF200SA prober est composé d'un alliage d'aluminium durable et stable en température. Cela permet au dispositif de fonctionner dans des conditions environnementales variables et assure une grande précision de contact entre la sonde et l'échantillon. Son corps principal est composé de quatre panneaux qui peuvent être tournés pour accéder à différents points du dispositif. Le prober utilise également une technologie d'inclinaison à quatre-vingt-dix degrés et de rotation à 360 °, permettant un accès facile à des endroits difficiles d'accès. Le prober est exploité par l'intermédiaire d'une interface utilisateur graphique (interface graphique). Ce programme affiche les points de connexion de l'échantillon au prober, permettant à l'utilisateur de sélectionner les points appropriés et de construire un schéma du dispositif. De plus, l'interface graphique dispose de fonctions d'auto-test intégrées pour garantir la précision et la fiabilité des mesures. ACCRETECH UF 200 SA prober est entièrement intégré aux microscopes de la série TSK Thunder et est capable de sonder même les composants semi-conducteurs les plus complexes, les plus intégrés et les plus avancés. Il fournit des résultats précis dans des délais de tests rapides et produit un large éventail de rapports, y compris des indicateurs de défaillance potentiels. Les données collectées sont facilement sauvegardées, ce qui permet un traitement et une analyse fiables. En conclusion, UF200SA prober est un instrument fiable et efficace pour tester les propriétés électriques et physiques des composants semi-conducteurs. Il est très durable, précis et facile à utiliser. L'interface graphique conviviale et le système complet de récupération de données en font une solution idéale pour toute application.