Occasion ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235934 à vendre en France
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ID: 9235934
Style Vintage: 2004
Prober
Manipulator: MHF300L2
Stage chuck: Gold chuck
Temperature control: Hot chuck
Frequency band chuck temperature: 30°C-150°C
Cleaning unit type: Ceramics pad
CPU Board version: 7507A
Ethernet
Motor type: APC
Probe card holder
TFT LCD Color display, 10.4"
No OCR
Slot number / Boards
Slot 1 / CPU
Slot 4 / VGAC
Slot 6 / COGNEX
Slot 8 / PIO
Slot 10 / TTL/GP-IB
Slot 11 / 5CH PGEN
Slot 14 / CAP Sensor
Slot 16 / AVME
Slot 17 / LD. IO
Slot 18 / LD. PGEN
VME Rack / Board name / Description
1 / Master CPU / ADVME 7507
4 / VGAC2 / -
6 / ITV / COGNEX 8200
8 / PIO / -
10 / GPIB / -
11 / (5) PGEN / -
13 / Slave CPU / AVME-344A
14 / Capacitive sensor / -
16 / LD I/O-1 / AVME-115B
17 / LD PGEN-1 / -
18 / PI IO / -
ETC:
COGNEX Board version: 8200
External media: FDD, MOD
2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA est un prober complet conçu pour offrir une détection de haute précision des dispositifs semi-conducteurs dans des applications académiques et industrielles. L'équipement est conçu pour étudier une variété de matériaux allant des plaquettes de silicium aux structures 3D avancées, y compris les conceptions de circuits intégrés et les capteurs MEMS. Le prober est équipé d'une grande variété de capacités de sondes, d'essais et d'analyses pour couvrir l'ensemble du processus d'essai, du développement à la production. Le prober est composé d'un système de positionnement de sonde de haute précision, d'un étage x-y pour l'alignement et d'un étage z motorisé pour le post-traitement. Cette unité est soutenue par un logiciel puissant qui comprend l'analyse de données statistiques et la génération de modèles de test, ainsi que la gestion de bases de données CAO, l'optimisation de la conception et les tests automatisés. La machine offre un alignement et un balayage automatisés des plaquettes avec une précision allant jusqu'à 100 nanomètres, et une surface de travail mobile avec un total de 238 x 46 mm. Le prober offre également une variété de caractéristiques pour une performance optimale. Il s'agit notamment d'une mémoire d'échantillonnage multi-programmable intégrée, de la compensation dynamique automatique individuelle et des corrections de linéarité, de la détection automatique des rayures et de l'analyse automatique des passes/échecs. En outre, il dispose d'une lentille d'alignement omnidirectionnelle intégrée et d'un outil de sonde laser à large surface permettant de tester rapidement et avec précision les plaquettes jusqu'à 10 pouces de diamètre. TSK UF200SA est bien adapté aux études de métallisation, à la caractérisation active des dispositifs, aux mesures du courant de fuite au niveau de la matrice et à diverses tâches d'essai et d'analyse des dispositifs semi-conducteurs. Il fournit aux utilisateurs une détection et des tests de haute précision, un alignement rapide et une excellente répétabilité pour l'acquisition de données précises. En outre, sa conception modulaire le rend facile à configurer et peut être facilement étendu pour répondre à des exigences changeantes.
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