Occasion ACCRETECH / TSK UF 200SA #9270840 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 200SA est un système de microsonde conçu pour des essais avancés de semi-conducteurs. C'est un outil polyvalent et fiable pour inspecter, mesurer et sonder les petits composants tels que les microprocesseurs et les mémoires. Le prober peut être utilisé pour des tâches telles que le repérage des contacts et l'analyse du rendement. Le composant principal du système est l'étage prober, qui se compose d'un étage piézomoteur vertical, d'une table optique haute vitesse et d'un contrôleur de mouvement. L'étage prober est conçu avec une précision de sous-micron qui assure des mesures très précises. Il présente un plancher de bruit très faible qui permet de mesurer avec précision des signaux très faibles. Le prober est également capable de scanner sur une large gamme de fréquences à travers une large gamme de tailles d'échantillons. Il est équipé d'un interféromètre laser intégré et d'une capacité de balayage à grande vitesse. Cela permet de s'assurer que les mouvements de la sonde sont précis et précis, même à des vitesses de balayage élevées. TSK UF200SA comprend également une fonction de suivi automatisé des contacts pour sonder les composants. Cette fonctionnalité permet une cartographie automatique entre les broches du composant et les contacts du prober. Il aide également l'opérateur à déterminer le placement optimal de la sonde pour assurer des contacts fiables. ACCRETECH UF 200 SA dispose également d'un réglage automatique du point de référence qui contribue à améliorer la précision et la stabilité des mesures. UF 200SA est un outil fiable et polyvalent pour les essais avancés de semi-conducteurs. Il offre précision et fiabilité dans un large éventail d'applications, lui permettant de répondre aux exigences des circuits intégrés modernes. Il est bien adapté pour inspecter, mesurer et sonder de très petits composants. En outre, ACCRETECH/TSK UF200SA dispose d'un repérage automatisé des contacts et d'un réglage du point de référence qui rend le processus de test des semi-conducteurs plus fiable et efficace.