Occasion ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314157 à vendre en France

ACCRETECH / TSK UF 200SA
Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 200SA
ID: 9314157
Style Vintage: 2003
Probers With hot chuck Chuck type: Gold Wide polish pad: Ceramic pad Manipulator: MHF 300L Motor type: APC Probe card holder TFT LCD Color display, 10.4" No OCR VME Rack / Board name / Description 1 / Master CPU / ADVME 7507 4 / VGAC2 / - 6 / ITV / COGNEX 8200 8 / PIO / - 10 / GPIB / - 11 / (5) PGEN / - 13 / Slave CPU / AVME-344A 14 / Capacitive sensor / - 16 / LD I/O-1 / AVME-115B 17 / LD PGEN-1 / - 18 / PI IO / - 2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA est un prober de métrologie conçu pour effectuer des mesures précises et précises sans contact de matériaux et dispositifs semi-conducteurs de 150 nanomètres. Ce prober combine une combinaison unique de haute vitesse et d'une précision exceptionnelle en hauteur et en planarité. TSK UF200SA a été conçu pour répondre aux exigences critiques de l'amélioration du rendement des semi-conducteurs et de la surveillance de la fiabilité. Le prober a une conception flexible qui peut être utilisé avec une variété de substrats et d'appareils. ACCRETECH UF 200 SA dispose d'un système de roulement à air sans huile de qualité industrielle, qui permet un positionnement rapide et précis de la pointe de la sonde sur 200 000 fois/s vers l'intérieur et vers l'extérieur. Le mouvement d'entrée/sortie de la sonde est contrôlable par incréments de 20 nanomètres avec une plage de course totale de 0,2 mm. Cela permet au prober de mesurer avec précision la forme et les surfaces 3D des substrats et des dispositifs sans contact. UF 200SA prober est équipé d'une caméra CCD, qui sert à localiser les points de repère sur le substrat et à positionner avec précision l'extrémité de la sonde. La caméra a une résolution de 3,2 μ m/pixel, qui est capable de reconnaître et de mesurer de très petits détails dans la surface du substrat. La technologie d'imagerie interférentielle (IFI) est utilisée pour mesurer et analyser la forme 3D du substrat, ce qui permet de déterminer avec précision la rugosité de surface. UF200SA est équipé d'une variété de fonctionnalités logicielles qui permettent de mesurer avec précision diverses caractéristiques liées aux semi-conducteurs, telles que la coplanarité, le profilage, l'analyse des vibrations, l'alignement, l'inclinaison et la distorsion. Le prober dispose également d'une fonction d'étalonnage et d'alignement automatique pour assurer des mesures précises. D'autres fonctionnalités incluent la collecte de données en temps réel, l'affichage en temps réel et les capacités d'analyse de données. TSK UF 200 SA fournit une solution rapide, précise et fiable pour mesurer les caractéristiques physiques des matériaux et dispositifs semi-conducteurs. Il est très soutenu par des applications logicielles puissantes et polyvalentes, permettant une mesure et une analyse rapides des substrats et des dispositifs. ACCRETECH UF 200SA prober est utilisé dans de nombreuses industries, y compris la production de semi-conducteurs, l'automobile, les industries de fibres optiques, et plus encore.
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