Occasion ACCRETECH / TSK UF 300 #9281378 à vendre en France
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Vendu
ID: 9281378
Style Vintage: 2001
Prober
Chuck type: Gold
Chuck size: 8"-12"
E2 Camera
Loader
Temperature range: Ambient +150°C
HINGE MHF250 Manipulator
GPIB
Needle alignment
Auto needle height
Auto alignment
XY Position accuracy: ±1µm
No manipulator and inking
No chiller
No docking kit
No head plate
No OCR
No clean pad
2001 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300 prober est une station de sonde semi-conductrice de pointe conçue pour une analyse de surface complète. Grâce à une série d'étapes précises, TSK UF 300 fournit une imagerie de haute qualité, la visualisation, et des mesures rapides des structures micro-échelle et nano-échelle à la surface d'une plaquette de semi-conducteur. Couvrant une gamme allant de mesures électriques de bas niveau à la démonstration de pas et de détection induits par la lumière, ACCRETECH UF300 est un puissant prober qui permet d'explorer les stratégies et composants les plus complexes. L'UF 300 dispose d'un oscilloscope de 12 ou 14 GHz comme composant central du prober, permettant de prendre des mesures d'impédance à ultra haute résolution. Le prober est également optimisé pour le fonctionnement automatisé, avec un moteur de calcul haute performance pour le traitement d'image à haut débit. Ses scanners, y compris le scanner Passport-VL et le scanner Passport-TW, facilitent l'imagerie améliorée avec une précision sans précédent et l'enregistrement plus rapide des spécimens. En plus de la fonction prober, ACCRETECH/TSK UF300 offre une gamme de fonctionnalités telles que la régulation de température ambiante variable, la disponibilité des étages de plaquettes à plus large portée et une interface logicielle facile à utiliser. Son mécanisme de correction des erreurs HF, qui affiche des informations correctives sur un moniteur, assure une meilleure précision sur les structures fines. Pour les exigences les plus exigeantes, UF300 dispose également d'une variété de fonctions accessoires automatisées, permettant des tests de sonde adaptatifs à diverses conditions de processus. Des fonctions automatiques de mesure de focalisation et d'étalonnage sont disponibles, et ACCRETECH UF 300 peut effectuer la reconnaissance des plaquettes LED de manière rapide et de haute précision. TSK UF300 est la solution idéale pour les équipes de recherche et développement, permettant un contrôle de qualité efficace des processus de production de semi-conducteurs ainsi que la fourniture d'une variété de capacités d'imagerie, de visualisation et d'analyse pour permettre des essais et des mesures rapides des appareils. Le prober dispose également de capacités de surveillance à distance, permettant de fonctionner dans des environnements difficiles. En fin de compte, l'ACCRETECH/TSK UF 300 dispose d'une plate-forme sécurisée et fiable qui peut être exploitée grâce à une grande variété d'applications de test.
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