Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000+MHF4000 #9280000 à vendre en France

TSK UF3000 + MHF4000 prober est un équipement de prober polyvalent et entièrement automatisé offrant la plus grande précision et le plus haut débit de test possible. Ce prober est capable de mesurer, de tester et d'analyser une grande variété d'appareils et de composants sur une carte. Il dispose d'un système de portique linéaire de haute précision, d'une bibliothèque d'inspection complète et d'une puissante unité de contrôle. Le prober UF3000 + MHF4000 dispose d'un portique linéaire de haute précision qui se déplace avec une résolution micrométrique et d'un outil de contrôle de rétroaction adaptatif qui s'adapte aux variations de l'appareil. Cela permet au prober de scanner et d'analyser avec précision et de façon répétée les caractéristiques du dispositif et des composants ciblés. La bibliothèque d'inspection complète permet à ce prober de lire une grande variété de paramètres de test, y compris la granularité, la résistance, la tension, les temps de broche à broche, et plus encore. Le prober UF3000 + MHF4000 est également équipé d'un outil de contrôle intuitif intégré à la bibliothèque d'autosondage (APL) ACCRETECH. Cela permet aux opérateurs de configurer rapidement le prober et de faire des ajustements pour tester les paramètres. Ils peuvent également aligner automatiquement les pointes de la sonde sur la surface de l'appareil, tandis que la capacité d'étalonnage automatique du modèle élimine tout besoin de recalibrage. En outre, les réseaux de broches 100/1368 remplaçables du prober facilitent l'utilisation de l'outil avec une large gamme d'appareils et de composants. Le prober UF3000 + MHF4000 est un outil idéal pour tester, inspecter et analyser une grande variété d'appareils et de composants sur une carte. Avec ses caractéristiques polyvalentes, son équipement de portique linéaire de haute précision et sa bibliothèque d'inspection complète, le prober peut localiser et analyser avec précision les caractéristiques des appareils et des composants ciblés en une fraction du temps des méthodes d'essai traditionnelles. Cela en fait un outil inestimable pour les ingénieurs et les scientifiques des industries de l'électronique et des semi-conducteurs.