Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 Omega #9253251 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000 Omega est un prober de type table-top conçu pour l'analyse des défaillances, le test des circuits intégrés et la sonde des plaquettes. TSK UF 3000 Omega dispose d'une hauteur de pas standard de 200 μ m, permettant une taille de puce allant jusqu'à 60 mm. Il est équipé de deux refroidisseurs thermoélectriques, de quatre moteurs pas à pas et d'une unité de commande indépendante qui permet un fonctionnement facile du dispositif. La fonction principale de l'ACCRETECH UF 3000 Omega est de supporter la sonde à pas fin des circuits intégrés sur les cartes de circuits imprimés ainsi que le test en circuit et la sonde des plaquettes. Il est équipé de plusieurs bras de sonde et les commandes alphanumériques uniques trouvées sur le panneau de commande permettent de passer facilement d'une opération à l'autre. Des sondes sans contact peuvent également être utilisées pour effectuer des sondages, en veillant à ce que les composants délicats d'un appareil ne soient pas endommagés lors des essais. Les fonctions de contrôle de la hauteur, de la pression, de la température et de la polarisation du prober permettent diverses activités de sondage. L'UF 3000 Omega est conçu pour une utilisation facile et comprend un large éventail de fonctionnalités et de fonctions. Il dispose d'un écran tactile pour la mise en place de programmes de sondes, et de clés dédiées pour contrôler chaque étape de test. Il prend également en charge les opérations de sondages automatisés et la personnalisation des plans de sondages pour l'exécution de tests précis. En outre, ACCRETECH/TSK UF 3000 Omega propose un module de chargement parallèle (PLM) en option qui permet le chargement simultané d'un maximum de vingt-quatre pièces gravées. Le PLM permet de réduire le temps de chargement et de déchargement et est particulièrement utile pour le traitement et l'essai de volumes de plaquettes de haute production. L'Oméga de TSK UF 3000 prober est capable de l'exploration à de grandes vitesses avec sa 200 hauteur de pas de μm et est considéré un système idéal pour soutenir l'analyse d'échec critique et la localisation de faute.