Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621716 à vendre en France
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ID: 293621716
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober avancé pour la caractérisation et l'essai des dispositifs semi-conducteurs. C'est un équipement modulaire qui permet une gamme de capacités de sondes allant des mesures manuelles basées sur le contact aux mesures automatisées sans contact. Cette capacité est utilisée dans une variété de paramètres, y compris l'analyse des plaquettes, les tests de paquets, l'analyse des défaillances et plus encore. Le système dispose d'un design amélioré sans contact optimisé pour une sondes de haute précision. Au lieu d'utiliser des sondes basées sur des contacts, TSK UF 3000 utilise un module de 16 canaux, balayant la ligne à retard des doigts pour recueillir des données. Ce module est capable de scanner une surface entière de plaquettes à des résolutions sous-microns dans un format de tableau. Ceci, en combinaison avec la capacité de gravure profonde et la manipulation d'ultra-précision, lui permet d'offrir une précision et des performances extrêmement élevées. L'unité dispose également d'un étage entraîné à 4 axes qui peut se déplacer avec précision sur des échelles de sous-microns dans une variété d'axes. La sonde coordonnée de l'outil offre des solutions de mesure manuelles et automatisées. La sonde manuelle peut être effectuée en suspendant les sondes sur la surface de la plaquette et en lisant manuellement les valeurs d'intérêt. L'analyse automatisée utilise l'optique avancée et les logiciels informatiques de l'outil pour rechercher et analyser les fonctionnalités avec une plus grande rapidité et précision qu'une approche manuelle. Ceci peut être utilisé pour détecter des défauts et mesurer des paramètres tels que la résistance, la capacité et les caractéristiques thermiques. Ces fonctionnalités offrent une large gamme d'applications pour ACCRETECH UF3000. Il peut être utilisé pour diverses tâches de caractérisation telles que l'optimisation des processus, l'analyse des performances des appareils, l'analyse des défaillances et les essais du cycle de vie. Il est également adapté aux environnements de production à haut volume et peut être intégré dans les lignes de production existantes. Son approche sans contact le rend adapté à la recherche de plaquettes et aux tests de colis dans des environnements de salle blanche, et sa haute précision et sa résolution lui permettent de fournir des données détaillées sur les caractéristiques des appareils. ACCRETECH UF 3000 est un prober avancé qui offre une haute précision, sans contact pour une variété d'applications de test de dispositifs semi-conducteurs. Sa combinaison d'optique avancée, de module de ligne à retard à balayage des doigts, d'étage à 4 axes et de logiciels intégrés lui permet de fournir des données de haute précision dans une variété de paramètres. Cela le rend adapté à toute une gamme de tâches d'optimisation des processus, d'analyse des performances des appareils et d'analyse des défaillances, ainsi qu'à des environnements de production à haut volume.
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