Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621718 à vendre en France
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ID: 293621718
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober qui utilise la technologie contact et sans contact pour des solutions de métrologie efficaces. Il inspecte à la fois les IC avancés et anciens et les ensembles d'appareils pour un large éventail de paramètres, tels que les performances électriques et les défauts. TSK UF 3000 donne aux utilisateurs une précision et une fiabilité maximales grâce à une technologie de métrologie optique avancée et a la capacité d'inspecter des échantillons de différentes épaisseurs et formes, ce qui le rend idéal pour l'acceptation avancée des plaquettes, le contrôle des processus et l'analyse des défaillances. ACCRETECH UF3000 utilise un système d'alignement de plaquettes conçu pour trouver et corriger avec précision la position de la matrice et l'angle d'inclinaison de l'échantillon afin d'obtenir les meilleurs résultats possibles. Le prober utilise une gamme de technologies de contact et sans contact, y compris la sonde optique, électrique et sous vide. Les sondes optiques utilisent des lasers UV non destructifs pour la mesure de microscopie, caractérisant des paramètres géométriques tels que les contours, les marches, la hauteur et l'emplacement des trous. Les sondes électriques utilisent des outils de prober automatisés pour tester les paramètres électriques des plages de contact. ACCRETECH UF 3000 dispose d'un chargeur et d'un déchargeur automatisés pour le chargement et l'extraction rapides des échantillons. Le prober est livré avec une interface graphique conviviale qui est conçu pour faciliter et accélérer la navigation. Un ensemble de variables et de paramètres de test programmables peuvent être contrôlés grâce à l'interface graphique et offrent une flexibilité accrue à l'ensemble de la configuration. Le prober dispose également d'une bibliothèque d'inspection intégrée pour aider à stocker les programmes de test et fournir un moyen facile d'y accéder. ACCRETECH/TSK UF3000 est capable de multiplier et de tester plusieurs échantillons simultanément, générant des résultats rapides avec un minimum d'erreurs. Les sondes sont généralement chargées d'air sous pression pour assurer une force de contact minimale et améliorer la fiabilité. Le prober peut également être utilisé dans une variété d'environnements, y compris salle blanche, laboratoire ou ligne de production. La précision, la vitesse et la fiabilité de TSK UF3000 en font la solution parfaite pour l'acceptation des plaquettes et l'amélioration du rendement de la filière.
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