Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621719 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 293621719
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober automatisé conçu pour l'inspection des plaquettes et la caractérisation électrique des dispositifs semi-conducteurs. Cet outil est très sensible et peut détecter de petites variations même à haute température. Grâce à un contrôle avancé du mouvement multi-sondes, il permet à l'utilisateur de cartographier rapidement et avec précision les différentes zones d'un appareil à des températures variables. TSK UF 3000 supporte jusqu'à 16 sondes, permettant à chaque sonde de tester simultanément des dispositifs indépendants. L'ensemble du système est intégré de façon transparente au logiciel TSK WaferScan, permettant aux utilisateurs de mesurer et d'analyser rapidement les données collectées. ACCRETECH UF3000 offre un choix de différentes plages de température, ce qui contribue à accélérer le processus. Il comporte également un certain nombre de têtes de sonde différentes, permettant à l'utilisateur d'entrer en contact avec le dispositif à différents angles et positions. La plage de température peut être contrôlée avec précision et peut atteindre des températures extrêmes allant de -50 ° C à + 400 ° C Cet outil est également conçu pour injecter l'énergie du signal et mesurer la réponse du circuit en nanosecondes pour la caractérisation dynamique du dispositif. TSK UF3000 fournit des données et des performances sans précédent, avec un logiciel de support et un traitement du signal à haute vitesse. Il dispose de fonctions de gestion étendues pour gérer les programmes de test, y compris les rapports signal/bruit, les limiteurs et la dynamique réglable. Il dispose également d'une plaque adaptatrice rapidement interchangeable, permettant un changement rapide et sans effort de la configuration de test. ACCRETECH UF 3000 fournit un contrôle de haute précision du mouvement de la sonde et de la hauteur Z pour une excellente précision. Cet outil est conçu pour le format au niveau de la plaquette et l'adressage au niveau de la matrice. Il offre de puissantes capacités d'analyse et d'enregistrement avec un système d'enregistrement automatique des données. Pour des résultats reproductibles de haute précision, UF3000 est l'outil idéal. Sa conception robuste et sa technologie de pointe en font une solution idéale pour l'inspection rigoureuse et la caractérisation électrique des pièces semi-conductrices dynamiques.
Il n'y a pas encore de critiques