Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #293770298 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 293770298
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2007
Prober, 8"-12" Chuck type: Nickel Ambient hot temperature OCR Type: E3 camera Touch sensor Clean pad: 150x150 mm Chuck blower No APC Touch screen panel Single loader GPIB CPU Type: WG1004-7-300 MIC1040-14-1-A Power supply: AC 220 V, Single phase 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 prober est un équipement sophistiqué conçu pour la fabrication et les essais de semi-conducteurs. En tant qu'outil crucial dans l'industrie des semi-conducteurs, le prober est utilisé pour tester les caractéristiques électriques et fonctionnelles des dispositifs semi-conducteurs tels que les circuits intégrés (IC), les puces à mémoire et les capteurs avant de les emballer et de les assembler en produits électroniques. Au cœur, TSK UF 3000 prober se compose d'un système mécanique de précision avec des capacités de positionnement avancées pour assurer des tests précis et reproductibles des dispositifs semi-conducteurs. Le prober dispose d'un mécanisme de sonde motorisé qui permet un contact précis entre les pointes de sonde et les plots de liaison sur le dispositif semi-conducteur à l'essai. Cela garantit des connexions électriques fiables et cohérentes pour des résultats d'essai précis. Une des caractéristiques clés d'ACCRETECH UF3000 prober est ses capacités avancées de sondes, qui comprennent la capacité de gérer plusieurs sondes simultanément pour tester plusieurs points sur l'appareil en parallèle. Cette capacité à haut débit est cruciale pour améliorer l'efficacité des essais et réduire le temps d'essai global, ce qui rend le produit adapté aux environnements de production à haut volume. En plus de ses capacités de sondes, ACCRETECH/TSK UF3000 prober est équipé d'une gamme de fonctions d'alignement et de positionnement pour garantir des tests précis et précis. Le prober utilise des systèmes d'alignement optique avancés pour aligner les sondes avec les plots de liaison sur le dispositif semi-conducteur avec une précision de niveau micron. Cela permet au prober d'atteindre des tolérances de contact serrées et de minimiser le risque d'endommagement du dispositif lors des essais. En outre, ACCRETECH UF 3000 prober est conçu avec la polyvalence en tête, avec un design modulaire qui permet une personnalisation facile et l'intégration avec d'autres équipements de test et systèmes logiciels. Le prober est équipé d'interfaces conviviales et de commandes logicielles qui permettent aux opérateurs de facilement configurer, programmer et exécuter des séquences de test pour un large éventail de dispositifs semi-conducteurs et d'exigences de test. En termes de spécifications, UF3000 prober offre une gamme de configurations de sondes, y compris des options de sondes à un point et à plusieurs points, ainsi que des options d'orientations de sondes verticales et horizontales. Le prober est capable de manipuler une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, des petits IC aux grands modules multi-puces, ce qui en fait un outil polyvalent pour tester divers types de dispositifs dans l'industrie des semi-conducteurs. Dans l'ensemble, TSK UF3000 prober est une solution de test de pointe qui offre une grande précision, fiabilité et efficacité pour la fabrication de semi-conducteurs et les applications de test. Avec ses capacités de sondes avancées, ses systèmes d'alignement précis et ses interfaces conviviales, le prober est bien adapté aux environnements de production à haut volume où la vitesse, la précision et la fiabilité sont essentielles pour garantir la qualité des dispositifs semi-conducteurs.
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