Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9120847 à vendre en France

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ACCRETECH / TSK UF 3000
Vendu
Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9120847
Style Vintage: 2012
Prober Version: EX 2012 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober est un équipement de pointe utilisé pour caractériser les dispositifs au niveau des plaquettes. Le système combine un microscope optique haute résolution avec une large gamme de capacités d'analyse et de sondes pour accueillir des sondes standard et de haute précision. Cela permet d'utiliser l'unité pour améliorer le développement du procédé de fabrication, la détermination du rendement, la sondes et le contrôle de la production. La machine est conçue pour toute une gamme d'applications, y compris les inspections de plaquettes, les mesures de couches minces, la recherche d'informations de localisation, la recherche de matrice à matrice, l'analyse d'échantillons à motifs et la comparaison d'images. Il peut également accueillir différentes tailles de plaquettes, y compris des plaquettes circulaires standard de 200 mm et 300 mm, et de grandes plaquettes rectangulaires jusqu'à 700 mm de long et 200 mm de large. L'outil dispose d'une performance optique avancée, y compris une taille de tache variable de 0,5 à 6 mm, une focale réglable de 10 à 280 cm, une résolution latérale de 0,6 μ m et une résolution verticale de 0,3 μ m. Il est également compatible avec une grande variété de types de sondes optiques, y compris la lumière réfléchie, la lumière transmise, la fluorescence, la lumière polarisée, les images défocalisées, et plusieurs types de microscopes à balayage. En plus de ses performances optiques, l'actif dispose d'une grande variété de capacités de sondes. Il dispose d'un UF Probehead avec quatre sondes interchangeables de haute précision pour sonder la résistance, la capacité, le courant et la tension. L'UF Prober peut également accueillir des sondes et des transducteurs supplémentaires pour des mesures spécialisées. L'UF Prober comprend également un certain nombre de fonctionnalités logicielles conçues pour faciliter l'analyse des données. Il s'agit notamment de la cartographie automatisée des échantillons, du balayage automatisé de la tension, de la corrélation die-to-die, des outils d'orientation et de croquis des plaquettes et des rapports personnalisés. Le modèle peut également être utilisé dans une variété de langues, y compris l'anglais, l'espagnol et le chinois simplifié. L'UF Prober a un certain nombre d'avantages qui le distingue d'autres systèmes de conception et d'essai similaires. Il est très fiable et précis, et ses performances optiques avancées et ses capacités de sondes complètes le rendent idéal pour une utilisation dans le développement de procédés semi-conducteurs, le contrôle de la production et l'analyse des pannes. Avec son large éventail de capacités, l'UF Prober est l'un des systèmes prober les plus avancés sur le marché aujourd'hui.
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