Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9206780 à vendre en France

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Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9206780
Probers, 12" Accuracy: Within 4μm Stage positioning accuracy: 2μm / φ300mm Low noise chuck: 25~150℃ Options: Cleaning unit PC APC 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober haute précision, faible contact, haute vitesse conçu pour être utilisé dans les essais de performances des semi-conducteurs et autres circuits. Il combine des capacités précises de déplacement, de sondes à faible contact et de haute vitesse, d'acquisition et d'analyse de signal pour fournir une solution complète pour les tests de performance du circuit. TSK UF 3000 offre un certain nombre de fonctionnalités adaptées aux applications de test des semi-conducteurs. Sa tête de balayage spécialement conçue peut être déplacée rapidement et avec précision dans les directions X, Y et Z jusqu'à 12 000 cycles par seconde. Ceci fournit une méthode rapide et précise de test de grands circuits sans avoir besoin de sonder physiquement chaque puce. De plus, la tête de balayage possède une force de contact faible qui minimise la diaphonie et les dommages aux structures fragiles. ACCRETECH UF3000 dispose également de capacités intégrées d'analyse des signaux qui permettent à la sonde d'analyser les signaux en fonction des caractéristiques. Cela élimine la nécessité d'enregistrer et d'analyser manuellement les données du signal. Les résultats d'analyse peuvent ensuite être utilisés pour ajuster automatiquement les mouvements du prober afin d'améliorer la précision des tests. ACCRETECH UF 3000 est également capable de travailler avec une variété de types de sondes, allant des sondes mono-contact aux sondes matricielles avec jusqu'à 8 électrodes. Cela offre une flexibilité pour les clients qui ont des besoins différents pour leurs essais de semi-conducteurs. Dans l'ensemble, ACCRETECH/TSK UF3000 est un prober avancé conçu pour le test de haute performance des circuits semi-conducteurs. Il dispose d'un mouvement à grande vitesse, de sondes à faible contact et de capacités intégrées d'analyse de signal qui en font un outil puissant et complet pour toute application de test de semi-conducteur.
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