Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9254154 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober conçu pour une métrologie et un contrôle de processus très précis dans la fabrication de semi-conducteurs à haute performance. Il est capable d'automatiser le processus de la sonde et de fournir des mesures précises et fiables. TSK UF 3000 utilise une sonde de balayage vertical qui crée des images de puces semi-conductrices. En utilisant des sondes de contact individuelles pour tester plusieurs broches en un seul balayage, ACCRETECH UF3000 peut atteindre rapidement et maintenir un état stable de précision. ACCRETECH UF 3000 dispose d'une gamme de sous-systèmes optiques et mécaniques avancés. Le module de balayage à 4 broches est conçu pour maximiser la précision dans les modèles de test. Il dispose d'un système optique réglable qui se concentre sur la plage d'essai sélectionnée avec une largeur de faisceau d'environ 1,5 μ m. L'optique est capable de lire les données longitudinales et de hauteur, fournissant une représentation précise de la puce. Le dispositif utilise également un porte-échantillon automatisé qui s'ajuste en fonction de la taille de la puce et de la plage latérale de l'échantillon. ACCRETECH/TSK UF3000 est capable de créer un degré élevé de précision et de répétabilité pendant le processus de recherche. Sa répétabilité de 0,50 μ m permet un contrôle maximum du processus et des résultats reproductibles. Il dispose également d'une capacité de balayage multi-passes et quatre fois agrandissement qui permet une plus grande vitesse et précision des opérations. TSK UF3000 comprend un logiciel automatisé pour le contrôle des processus de test, ainsi qu'un module d'excellence statistique intégré. Cela aide à optimiser le processus de sondage tout en assurant le contrôle du processus en temps réel. UF3000 comprend également un système d'étalonnage automatisé et un logiciel de stratégie de sondage intelligent, qui permet des résultats plus rapides et plus précis avec moins de passes. L'UF 3000 est très adaptable et peut être utilisé pour diverses applications et configurations de puces. Sa conception intuitive le rend facile à mettre en place et à utiliser. En outre, il dispose d'une tête de sonde auto-ajustable, qui assure que l'échantillon est toujours en contact complet avec la sonde. Le prober est conçu pour maximiser la productivité et réduire les coûts en fournissant une solution robuste au processus d'inspection des semi-conducteurs de haute performance.