Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268055 à vendre en France

ACCRETECH / TSK UF 3000
Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9268055
Taille de la plaquette: 12"
Wafer prober, 12" No Hard Disk Drive (HDD).
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober de haute précision développé et fabriqué par TSK Inc. conçu pour la détection et le débogage de dispositifs semi-conducteurs avancés. TSK UF 3000 utilise une conception unique pour permettre une sonde en tangage fin et est capable de supporter toutes les technologies de carte de sonde haute densité et de soudure ou de collage de filière utilisées dans la sonde et le débogage de dispositifs semi-conducteurs. La précision maximale de la sonde du prober est de cinq microns, ce qui la rend extrêmement précise pour la sonde et le débogage des dispositifs semi-conducteurs avancés. La tête de sonde est construite à partir de matériaux de haute précision et a la capacité de mettre à l'échelle et d'aligner automatiquement sa hauteur à une précision de 0,2 mm. La tête de sonde utilise également une conception entièrement fermée qui élimine la contamination de l'environnement et fournit un espace de travail propre et sans poussière. En outre, la tête de sonde dispose de capacités de balayage et de sondes à grande vitesse avec une plage de pas de balayage complète de 0,25 mm et une précision maximale de 0,01 mm. ACCRETECH UF3000 dispose également d'une variété d'outils intégrés, y compris une interface utilisateur intuitive pour l'analyse, le débogage et le reporting, la microscopie vidéo haute résolution, la recherche multi-points et la reconnaissance auto-site pour un débogage efficace. ACCRETECH UF 3000 offre une grande variété d'options pour l'intégration avec d'autres équipements de test et de diagnostic, y compris une interface de données USB 3.0, la communication réseau en temps réel, et des accessoires programmables pour la configuration de l'équipement personnalisé. En conclusion, UF 3000 prober est une machine de haute précision et polyvalente utilisée pour la détection et le débogage de dispositifs semi-conducteurs avancés, offrant une variété d'outils intégrés et d'options d'intégration avec d'autres équipements d'essai. Sa précision maximale de sonde de cinq microns et son interface utilisateur intuitive font de UF3000 le système idéal pour toute application de sonde et de débogage de dispositifs semi-conducteurs.
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