Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268173 à vendre en France

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Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9268173
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2005
Prober, 12" Single side loader Overall accuracy: Within 4 μm Stage positioning accuracy: 2 μm / φ300 mm Z-Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z-Axis control accuracy: ±2 μm Stage durability: 200 kgf Chuck type: Hot chuck Low noise, 12" Temperature range: +40°C to +150°C MHF4000 Hinge and Floppy Disk Drive (FDD) Does not include: Chiller Hard Disk Drive (HDD) 2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober est un Wafer Prober hybride autonome conçu pour tester des composants semi-conducteurs jusqu'à 6 pouces de taille. Il dispose d'un équipement de mesure intégré et d'un étage 3 axes à haute résolution avec une résolution de positionnement réglable de 0,5 µm. Ce prober est capable de tester à grande vitesse des composants électroniques dans une gamme d'environnements, ainsi que la répétabilité et la précision. Il offre également des fonctions d'étalonnage automatisé, d'alignement automatique et de mesure automatique pour une répétabilité précise des paramètres d'essai. Au cœur de ce prober se trouve son système de commande numérique robuste et intégré avec un mouvement d'étage 3 axes motorisé intégré, permettant à TSK UF 3000 Prober de maximiser la productivité au sein du laboratoire. Il a également la flexibilité d'être contrôlé manuellement ou à partir d'un PC distant, fournissant une interface facile à utiliser pour tout processus de test. Le prober supporte jusqu'à quatre systèmes de mesure pour supporter plusieurs types de tests, éliminant le besoin de plusieurs sondes avec des tests dédiés. ACCRETECH UF3000 Prober offre jusqu'à 300 mm de course de plaquettes à une vitesse maximale de 200 mm/s, offrant à la fois des performances de test à grande vitesse et une précision précise. Les plaquettes peuvent être enfilées dans l'unité de vide du distributeur, ce qui permet des essais scellés et un alignement précis des plaquettes tout en éliminant les éventuelles fuites de gaz et la contamination. Sa machine d'asservissement unique permet également à UF 3000 Prober de positionner avec précision la plaquette dans la zone de mesure active pour obtenir les résultats les plus précis. UF3000 Prober dispose également d'un outil d'imagerie avancé, intégré et à haute résolution pour identifier les défauts et les défauts à la surface de la plaquette. Il est adaptable pour accueillir un large éventail de sondes et de jigs pour divers types de tests, et peut être utilisé en combinaison avec l'actif d'alignement automatique intégré. Cela permet à TSK UF3000 Prober d'être utilisé pour diverses applications de test, telles que la sonde de plaquettes submicroniques, la sonde à LED, une variété de tests électriques, la nanofabrication et l'atomisation. ACCRETECH/TSK UF3000 Prober est un outil inestimable pour une grande variété d'environnements de fabrication et de test de semi-conducteurs. Sa conception robuste et son intégration avec le mouvement d'étage 3 axes motorisé offrent une solution fiable pour des essais précis et reproductibles. Son modèle unique d'imagerie intégrée améliore encore sa facilité d'utilisation pour l'identification et la vérification des défauts. Grâce à sa précision et à sa répétabilité considérables, l'ACCRETECH UF 3000 Prober peut fournir des mesures précises et optimisées en laboratoire et sur le plancher de production.
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