Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9293772 à vendre en France

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ACCRETECH / TSK UF 3000
Vendu
Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9293772
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer prober, 12" Chuck type: Nickel Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD), 3.5" Magneto-Optical drive (MO Drive) Head stage Single loader Loader type: FOUP and Open cassette Dual robotic wafer transport arms Pre-alignment stage unit Auto needle alignment Alignment camera Dual (X and Y) HEIDENHAIN scales Color LCD control panel with touch panel switches Alarm lamp pole Options: Hot chuck: +30°C to +150°C Needle cleaning: Wafer type, polish plate Multi-site parallel probing Fail mark inspection Probe mark inspection GPIB Interface Ethernet interface Automatic Card Changer (ACC) Image processing board Bump height settings Group index Multi-pass probe Printer Network option: Veganet CE Marked 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober automatisé de pointe conçu pour être utilisé dans les procédés modernes de fabrication de semi-conducteurs. Il est capable d'effectuer une variété d'opérations de sondage rapidement et avec précision, telles que les tests, les sondages et le tri des matrices. TSK UF 3000 dispose d'une conception modulaire PPD - plateforme prober qui permet la mise en œuvre de nouvelles technologies rapidement et efficacement. Ce modèle supporte plusieurs plaquettes ou puces sur une seule tête d'alignement quadrant afin de minimiser le temps de débit et d'obtenir des cycles de sondes rapides. Le PPD est équipé de nombreux périphériques et options, y compris un équipement de détection de perte de plaquettes, un mandrin à vide unique, différents types de bras robotisés, des moteurs, des cartes de sonde à changement rapide, des étalonnages de force spéciale, ainsi que des systèmes de vision. ACCRETECH UF3000 permet également d'accéder au fonctionnement des données, aux analyses de performance et à d'autres informations traitées. L'UF 3000 prober est conçu pour optimiser l'efficacité de production et minimiser les coûts, tout en offrant un débit et un rendement maximaux. Il est capable d'échantillonner une variété de tailles de plaquettes et son empreinte minimale permet de réduire l'espace d'alignement des coûts. La conception universelle d'alignement en 4 quadrants du probère facilite les opérations de sondes pour deux, trois ou quatre types de têtes d'essai. Combinaison d'un axe Z motorisé (axe de mouvement perpendiculaire à la surface de la plaquette) ; vis de machine à tangage fin en X et en Y ; et un module de contrôle de puissance élevée permettent une sonde de haute précision. ACCRETECH UF 3000 dispose d'un système de verrouillage unique qui assure une visibilité totale de la tête d'essai pour la vérification, la maintenance et l'étalonnage avant et après chaque opération. UF3000 dispose d'une unité de contrôle des forces de contact robuste et sans contact avec des forces de contact commandées par logiciel et une force réglable par contact. Cela garantit une connexion sécurisée et des performances précises des sondes pendant le fonctionnement. La machine dispose également d'un ensemble de sondes configurables qui permet aux utilisateurs de configurer les paramètres de détection optimaux pour chaque application. Le prober ACCRETECH/TSK UF3000 comprend également une machine d'alignement à grande vitesse pour assurer un alignement précis des puces d'essai. La conception de la rainure en V offre une variété de positions de sonde pour assurer un alignement parfait de chaque puce d'essai. En outre, TSK UF3000 est capable de fonctionner en fonctionnement manuel, automatique ou semi-automatique, permettant aux utilisateurs de sélectionner le fonctionnement le plus approprié pour leur application. Dans l'ensemble, l'ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober très efficace et précis, capable d'effectuer rapidement et avec précision une variété d'opérations de sondes. Il est conçu pour minimiser le coût, tout en maximisant le débit et le rendement. Ses fonctionnalités avancées et ses sondes configurables permettent aux utilisateurs d'optimiser les performances du prober en fonction de leurs exigences spécifiques.
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