Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9354561 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 3000
ID: 9354561
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2008
Prober, 12" 2008 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un produit complet utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour l'inspection et l'essai de composants semi-conducteurs. Le prober est conçu pour offrir un large éventail de capacités d'analyse, y compris l'analyse au niveau de la production, l'évaluation et l'analyse fine, l'analyse transversale FIB, la cartographie des plaquettes et la préparation des échantillons TEM. TSK UF 3000 est composé de modules multiples, dont un étage d'échantillonnage, un contrôle de faisceau d'ions, un logiciel de cartographie des plaquettes et un contrôle d'alignement des plaquettes. L'étage d'échantillonnage est conçu pour la manutention de l'échantillon dur et doux et est livré avec une source de lumière UV en option. Le logiciel de cartographie des plaquettes dispose d'une interface utilisateur ergonomique et d'algorithmes d'acquisition de données à grande vitesse qui permettent une cartographie rapide et précise en temps réel. La commande d'alignement de la plaquette comporte des caractéristiques telles que l'alignement automatique du niveau et de l'axe et la compensation. Le prober comprend également un module de commande de faisceau ionique qui est livré avec un équipement d'entraînement XY de haute précision. Ce système dispose d'une unité de déviation de grande capacité, d'un contrôle XY et Z sans atterrissage de haute précision et d'une fonction d'échantillonnage à la volée qui permet un balayage à grande vitesse. Le faisceau d'ions peut être utilisé pour l'imagerie de tranchées profondes, la coupe transversale et la gravure de couches. En outre, la machine intègre également un outil de compensation de charge rapide pour la protection des échantillons. ACCRETECH UF3000 comprend également un module d'analyse en coupe transversale FIB (Focused Ion Beam) conçu pour la recherche fine et la préparation d'échantillons TEM à haute résolution. Cet atout permet une large gamme d'options de préparation d'échantillons telles que la gravure du côté arrière, le décollage de l'étage arrière, le décollage unidirectionnel et la gravure en couches minces. Enfin, UF3000 prober fournit également des capacités complètes de surveillance de l'environnement. Cela comprend la détection et l'analyse des vibrations, ainsi que la surveillance de la température et de l'humidité. Cela permet d'obtenir des résultats cohérents et garantit que toutes les mesures sont effectuées dans des conditions optimales.
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