Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9375638 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober conçu pour l'analyse avancée des défaillances dans les dispositifs semi-conducteurs modernes. Le prober permet aux utilisateurs d'identifier et d'isoler rapidement et facilement les défauts potentiels ou les problèmes de rendement et rend l'analyse avancée des défaillances beaucoup plus rapide et efficace. TSK UF 3000 prober a une grande capacité de 8 pouces wafer. Il dispose d'une caméra vidéo réglable et haute résolution pour obtenir des images détaillées du site de la sonde et peut également effectuer une variété de tests d'impédance et de puissance. Le prober est optimisé pour une grande précision et est précis à 0,1 micromètre près. L'extrémité de la sonde est équipée d'un servomoteur numérique à trois axes pour un contrôle précis du mouvement. Le prober est équipé d'un système de mesure intégré, qui fournit des mesures de performance en temps réel et l'enregistrement automatique des résultats de la sonde. Il est capable de gérer une variété de conditions d'essai et de paramètres de mesure, y compris la tension, le courant et la température. Le prober est entièrement programmable et peut être utilisé dans un large éventail d'applications, depuis le test et l'évaluation des plaquettes jusqu'à l'identification des défauts. ACCRETECH UF3000 prober est également capable de surveiller un large éventail d'informations paramétriques. Il a la capacité de mesurer la réponse haute fréquence, la réponse en fréquence et la capacité différentielle. Le prober est également capable d'effectuer des mesures de puissance, telles que la chute de tension du rail de puissance et la stabilité de marche/arrêt. Il peut également mesurer les performances sonores à bas niveau en capturant les paramètres s et les taux de décalage induits par les impulsions (PISR). Le prober intègre une imagerie haute densité qui peut détecter des défauts aussi petits que 0,4 microns. Il peut être utilisé avec une variété de caractéristiques de circuits intégrés, tels que l'empilement 3D et l'utilisation de structures à couches minces intégrées et discrètes. En outre, le prober peut être utilisé pour des inspections post-gravure et est conçu pour être entièrement compatible avec les systèmes de contrôle de mesure existants. UF 3000 prober offre une grande combinaison de précision, de vitesse et de puissance conçue pour rendre l'analyse de défaillance avancée rapide et efficace. Il est conçu pour être convivial et dispose d'une interface intuitive qui permet aux utilisateurs de se lever et de fonctionner rapidement. Il fournit un ensemble complet de fonctionnalités et de capacités de performance pour sonder et tester une variété de dispositifs semi-conducteurs modernes.