Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9408930 à vendre en France
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Vendu
ID: 9408930
Taille de la plaquette: 12"
Prober, 12"
Chuck material: NICKEL
Hard Disk Drive (HDD)
Floppy Disk Drive (FDD), 3.5"
Magneto optical drive
Head stage
Loader
Type: FOUP and open cassette
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Auto needle alignment
Camera
X, Y Dual heidenhain scales
Color LCD Control panel with touch panel switches
Alarm lamp pole
Options:
Hot chuck: 30°C - 150°C
Wafer ID Recognition
Needle cleaning option: Wafer type and polish plate
Multi site parallel probing
Fail mark inspection system
Probe mark inspection system
GPIB Interface
Ethernet interface
Automatic probe card changer
Image processing board
Bump height setting
Group index
Multi pass probing
Printer
Network: Veganet
Tester and manipulator: ST MT72.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un prober conçu pour les essais automatisés dans l'industrie des semi-conducteurs. C'est un prober de haute précision, sans contact, qui utilise une gamme de sous-systèmes optiques et mécaniques pour fournir des mesures précises et répétables. Les capacités de conception compacte et de tests sans contact de TSK UF 3000 en font un outil précieux pour augmenter le débit et améliorer les rendements dans les opérations de fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de tester jusqu'à 24 points différents sur une seule filière simultanément, ce qui le rend idéal pour une production à grande échelle. ACCRETECH UF3000 dispose d'une scène x-y, qui sert à tenir, déplacer et orienter la filière test. Une fois la filière en position, une rangée de lasers la balaye pour mesurer les points de test. Un puissant algorithme de vision intégré détecte automatiquement les failles, garantissant des résultats précis et fiables. Ce système visuel est assez puissant pour détecter des défauts aussi petits que 10 microns. ACCRETECH UF 3000 dispose également d'un certain nombre de fonctionnalités qui le rendent plus facile à utiliser, y compris une interface conviviale, des diagnostics intuitifs et un ensemble complet d'options de sortie de données. L'interface permet à l'utilisateur d'ajuster des paramètres importants tels que la taille de l'échantillon, la fréquence des tests et les tolérances, ce qui facilite la personnalisation du système pour des exigences spécifiques. Les diagnostics intégrés fournissent des messages d'erreur en temps réel et des informations sur le statut, contribuant à minimiser les temps d'arrêt et à assurer le contrôle de la qualité. Les options de sortie permettent d'envoyer des données à une variété d'appareils, ce qui facilite l'examen et l'analyse des résultats. Dans l'ensemble, UF3000 est un prober polyvalent, puissant et très précis qui est un excellent choix pour les essais de semi-conducteurs. Ses caractéristiques avancées en font une option supérieure pour les tests de précision et l'amélioration du rendement.
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