Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000 #9410147 à vendre en France
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ID: 9410147
Wafer prober
Control system
Hard Disk Drive (HDD)
Floppy Disk Drive (FDD): 3-1/2"
Magneto optical drive
Head stage
Single FOUP port for 25 wafer, 8" -12"
Manual wafer inspection transfer unit
Dual robotic wafer transport arms
Per-alignment stage unit
Advanced wafer alignment unit
Dual (X and Y) Heidenhain scales
Quad pod Z stage
LED Color control panel
Touch panel switches
Alarm lamp pole (Blue / Orange / Green)
(3) Fixed trays
Inspection tray
LC40-12 Nickel cold chuck
Chiller unit: -40°C to 150°C.
ACCRETECH/TSK UF 3000 est un dispositif prober, conçu pour tester et mesurer les propriétés de divers matériaux semi-conducteurs. Grâce à sa détection précise du faisceau laser optique, il mesure les résistances des fils et des circuits, fournissant un résultat de test et de mesure très précis. TSK UF 3000 utilise une étape de balayage XY multidirectionnelle, qui peut être serrée ou desserrée pour correspondre aux spécifications exactes des matériaux testés. Les équations et les réglages sont réglables pour assurer les tests de précision et la surveillance. Ceci est également soutenu par la structure légère mais robuste du prober, et sa capacité à atteindre des vitesses élevées en fonctionnement. ACCRETECH UF3000 dispose également d'un circuit de pont de diodes, d'un CDA 16 bits intégré, et d'une variété de résistances et de condensateurs, ce qui lui permet de détecter avec précision la résistance et les propriétés diélectriques des fils, circuits et matériaux. L'ADC est conçu pour être thermiquement robuste et permet une large gamme dynamique de mesures. Le système est également équipé de sondes à haute sensibilité et réglables, y compris des sondes Kelvin, pyramidales et A/XP, améliorant encore ses capacités. Pour assurer des lectures et des résultats précis, ACCRETECH/TSK UF3000 utilise l'algorithme HACT (Heat Approximation Chromatic Transformation) et le principe d'estimation du mouvement. L'algorithme HACT peut mesurer avec précision la température et la résistance, même sur des matériaux difficiles à détecter, tandis que le principe d'estimation du mouvement réduit considérablement le temps de mesure et permet une exploration plus rapide des échantillons. Enfin, TSK UF3000 est également sauvegardé par un PC haute performance et peu coûteux pour contrôler le prober via un programme basé sur Windows. Ce programme facilite la surveillance, le réglage des paramètres et le stockage des données, aidant les utilisateurs à faciliter des essais et des mesures efficaces et précis. Au total, l'UF 3000 est un appareil prober idéal pour le test et la mesure de divers matériaux semi-conducteurs, offrant des résultats précis et précis.
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