Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000EX-f #293597821 à vendre en France

ID: 293597821
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2013
Prober, 12" Real time wafer map display Multi-site probing function: 3-64 dies Needle cleaning RTGR-48 Probe card holder Chuck type: Nickel, 12" Offline ink function Ink check function Needle inspection Profiler sensor Accuracy: ±2 µm Wafer diameter, 5"-12" Thickness: 200-1000 um Thickness variation: Less than ±50 um Vacuum supply: Less than 50kPa, 30 liters/minute X, Y-Axis: Probing area: ±170 mm Maximum speed: 500 mm/s Resolution: 0.5um Z-Axis: Full stroke: 37 mm Maximum speed: 30 mm/sec Resolution: 3.75 um Chuck Z control Control accuracy: ±2 um Over travel: 0~500um 0-Axis rotation range: ±4° Resolution: 0.00028° Fine alignment: CCD ITV Image processing Hard Disk Drive (HDD) Capacity: 40G bytes Drive Floppy Disk Drive (FDD) Disk nominal size: 3.5" USB Interface: External memory Display: TFT High color LCD, 15" Power supply: AC 220 ± 20 V, 3 kVA 2013 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX-f Prober est un appareil de test de production haute performance conçu pour tester rapidement et avec précision les caractéristiques des dispositifs de plaquettes en silicium. C'est un équipement entièrement automatisé et complet qui comprend toutes les fonctionnalités avancées requises pour tester des plaquettes à haute vitesse. TSK UF 3000EX-f Prober utilise une technologie avancée de sondes mécanisées et est équipé de technologies de pointe, y compris une plate-forme chauffée à 360 °, une sonde horizontale et verticale, un capteur de niveau, et une large gamme de processus automatisés, y compris des tests paramétriques de fiche de données, une inspection optique et un environnement contrôlé par la température. L'ACCRETECH UF 3000 EX-F Prober possède des caractéristiques avancées comme un mandrin de plaquette de haute précision, qui peut contenir des plaquettes jusqu'à 16 pouces de diamètre, et peut accueillir diverses épaisseurs. Le système de levage flexible est capable de traduire rapidement le mandrin dans l'axe z pour mesurer précisément l'épaisseur de la plaquette. Les sondes horizontales et verticales sont conçues pour une dynamique optimale, évitant les collisions entre sondes et permettant une large gamme de points de sonde. L'unité de sonde dispose également de diverses options d'essai ESD, y compris des détecteurs de fuites et des analyses de défaillance. Le Module Carte Sonde de TSK UF 3000 EX-F Prober offre plusieurs options de configuration, dont 256 canaux, 640 canaux et 1024 canaux. Cela permet une précision de sonde ultra-élevée et une vitesse de sonde beaucoup plus rapide. De plus, la fonction automatisée facilite le stockage et le rappel des paramètres de travail. L'environnement contrôlé par la température est couplé à une puissante caméra d'imagerie thermique qui garantit une excellente répétabilité et précision. ACCRETECH/TSK UF 3000 EX-F Prober est également livré avec une unité de révision optique pour la détection des défauts. Cette machine utilise l'imagerie avancée pour détecter les défauts des microèdres, les particules d'usure et d'autres anomalies. Il est très précis et peut détecter des défauts même sur les plus petites tailles de lot. Le logiciel permet aux ingénieurs d'analyser et de revoir les images en temps réel et de prendre des décisions rapidement. L'outil est facile à utiliser, avec une interface graphique puissante et un design de glisser-déposer intuitif. UF 3000EX-f Prober est un outil puissant qui permet de tester rapidement et avec précision les plaquettes et autres dispositifs microélectroniques. Il offre une répétabilité, une précision et une vitesse élevées, ce qui en fait une solution de test fiable et robuste pour les environnements de production. Les fonctionnalités automatisées facilitent le stockage et le rappel des paramètres de travail, et l'interface intuitive facilite la révision des résultats. Avec ses fonctionnalités avancées et ses capacités technologiques, l'UF 3000 EX-F Prober est le prober idéal pour les tests de qualité.
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