Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000EX #293617398 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000EX est un produit avancé utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs et des essais. Le prober est équipé d'un microscope à quatre dimensions (4D) avec un système d'imagerie UF haute résolution, qui fournit une analyse détaillée de divers types de composants et matériaux semi-conducteurs. Sa technologie avancée d'inspection automatisée permet aux utilisateurs d'identifier rapidement et avec précision les défauts des composants semi-conducteurs, tels que les largeurs de ligne/espace/contact, les chevauchements, les raccourcis et les circuits ouverts. La grande vitesse et la précision du prober, combinées à une excellente technologie de métrologie et à de grandes tailles d'échantillons, sont idéales pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs. Le prober est capable d'effectuer des tests en ligne et hors ligne. Il est capable d'analyser et de mesurer à la fois les échantillons d'essai in-die et out-die. Pour les échantillons in-die, le prober est capable de détecter et de mesurer un large éventail de défauts à haute résolution. En outre, il est en mesure de localiser les données de lot historiques, qui peuvent être utilisés pour améliorer le rendement et réduire les plaquettes des appareils. Le prober fournit également une analyse graphique en temps réel, ce qui contribue à réduire le temps et le coût du débogage. Le prober est équipé d'une carte de sonde et d'un analyseur de rendement contrôlés par la température, qui fournissent des diagnostics fiables pour détecter les courts, les circuits ouverts et d'autres défauts. Le système d'alignement automatisé des technologies de capteurs permet au prober de mesurer avec précision les échantillons de la plaquette à la puce, en fournissant des résultats précis. Le prober dispose également d'une fonction de traitement d'image 4D et de reconnaissance des motifs, qui aide les utilisateurs à identifier et localiser les motifs rapidement et avec précision. TSK UF3000EX prober est conçu avec une variété de caractéristiques et de niveaux de performance qui en font un choix haut de gamme pour les essais de semi-conducteurs. Son système d'imagerie 4D, sa détection automatisée des fonctionnalités et ses outils de traitement d'image permettent aux utilisateurs d'identifier et d'analyser rapidement un large éventail de défauts. Sa carte à température contrôlée et son analyseur fournissent un diagnostic fiable. Enfin, sa fonction sophistiquée de reconnaissance des motifs permet aux utilisateurs d'identifier et de localiser les motifs rapidement et avec précision.