Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9166353 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000EX Prober est un équipement d'essai de semi-conducteurs conçu pour évaluer les propriétés électriques d'une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. Le système utilise une combinaison de microscopes à balayage (SPM), de micro- métrologie, d'interférométrie et de solutions de traitement laser, pour permettre à l'utilisateur de mesurer et d'analyser avec précision la structure, la composition et les propriétés électriques des semi-conducteurs. L'unité est capable d'effectuer une variété de fonctions, telles que la sonde à grande vitesse des plaquettes, le test de la carte de sonde, la collecte de données RCP et d'autres opérations de test et d'analyse avancées. La machine est équipée d'un outil de manutention automatique des plaquettes, qui sert à transporter les plaquettes jusqu'au port de chargement d'échange. Ce port de charge permet d'échanger les plaquettes de manière contrôlée, sans risque de contamination ou d'endommagement. TSK UF3000EX Prober est également équipé d'une capacité multi-fonctions et multi-modes. Cela permet à l'utilisateur de définir sa propre combinaison de tests en boucle et hors boucle, tels que l'analyse de contact, les paramètres électriques, la caractérisation du circuit et la collecte de données RCP. L'actif dispose également d'une gamme innovante de logiciels, qui permettent à l'utilisateur de personnaliser ses tests, y compris la possibilité de configurer différentes conditions de test, de créer des programmes de test personnalisés et d'analyser les données avec facilité. ACCRETECH UF 3000 EX Prober dispose également d'une source laser intégrée pour la découpe et le balayage laser. Cela permet à l'utilisateur de mesurer, couper, modeler ou scanner avec précision les zones ou activités requises sur la surface du semi-conducteur. En outre, le modèle est équipé d'une capacité de mesure haute fréquence, ce qui facilite les essais sur des signaux très haute fréquence, jusqu'à 10GHz. TSK UF 3000EX Prober est une solution idéale pour les essais et les mesures de semi-conducteurs, et sa combinaison de SPM, de micro-métrologie et d'interférométrie fournit une méthode précise et fiable pour caractériser et évaluer une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. L'utilisateur peut également utiliser l'équipement pour traiter de grands volumes de données rapidement et efficacement, tout en tirant parti de sa source laser intégrée pour l'activité laser.