Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9194857 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 3000EX est un prober pour les tests de wafer et IC. Ce prober fournit une détection de précision et des mesures précises pour une large gamme d'essais, avec une zone d'inspection maximale de 50 mm x 50 mm. Il dispose d'un étage motorisé X-Y-Z ainsi que d'un système avancé de transfert d'échantillons, permettant des mesures précises et répétables. Le prober a été conçu pour fournir un processus d'inspection stable et répétable et peut être utilisé pour tester une variété de produits IC, y compris des conceptions logiques, mixtes, analogiques, RF et optiques. Le prober offre une haute résolution de la position de l'échantillon et un débit élevé, avec une grande gamme dynamique. TSK UF3000EX dispose de paramètres logiciels flexibles et est capable de configurations multi-sondes, ce qui permet des mesures précises et reproductibles. Il dispose également d'une fonction avancée d'alignement automatique qui assure la précision et la répétabilité même dans les IC haute densité et les paquets. L'ACCRETECH UF 3000 EX offre également une large gamme d'options de test, y compris la mesure des performances du domaine temporel, les tests paramétriques DC et la recherche optique. Avec les fonctionnalités de configuration avancées et diverses options de test, l'utilisateur peut personnaliser les paramètres de test et les procédures de programme pour répondre aux exigences spécifiques de leur conception IC. ACCRETECH/TSK UF3000EX est également capable de tests à grande vitesse et dispose d'une gestion efficace de la collecte de données. Le prober dispose également de paramètres environnementaux pour un meilleur contrôle et une meilleure précision dans son environnement d'essai, tels que la température, la pression atmosphérique, l'humidité relative et la tolérance aux vibrations. En conclusion, ACCRETECH UF 3000EX est un prober avec une large gamme de capacités et de flexibilité qui en font un excellent outil pour les tests de wafer et IC. Les mouvements de haute précision et répétables, combinés à une gestion avancée de la collecte de données et à des configurations multi-sondes, en font un excellent choix pour tester de nombreux types de conceptions.