Occasion ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9258199 à vendre en France

L'ACCRETECH/TSK UF 3000EX est un prober qui fournit des capacités de sondes avancées pour les composants de circuits intégrés (IC). Cet outil est utilisé pour évaluer les performances des composants IC pour répondre à leurs performances attendues en silicium. Avec sa précision de micro-positionnement, TSK UF3000EX aide les ingénieurs de test à semi-conducteur à cerner rapidement, de façon fiable et efficace les problèmes critiques de performance. La petite empreinte et le design mince de l'ACCRETECH UF 3000 EX offrent une commodité supérieure lorsqu'il s'agit d'être monté sur une ligne de production. La conception conviviale du prober le rend également facile à utiliser et à naviguer. Sa structure de menu intuitive et son interface utilisateur graphique permettent aux ingénieurs de test à semi-conducteur de configurer facilement leurs paramètres de test et d'échantillonner rapidement les IC. ACCRETECH UF 3000EX offre des performances et une fiabilité supérieures grâce à sa technologie de sondes haute performance. Sa conception robuste et fiable le rend bien adapté aux applications de sondes en temps réel, telles que la sonder des IC densément emballés. Grâce à sa technologie de mesure en plusieurs points, les utilisateurs peuvent facilement sonder des IC à grande échelle avec des conceptions complexes avec une seule installation de test. En plus de sa précision et de sa fiabilité, UF3000EX est également conçu pour la flexibilité. Sa conception modulaire permet aux utilisateurs de changer rapidement et facilement ses configurations de test pour s'adapter à différentes conceptions d'IC. De plus, ses interfaces mécaniques standard permettent aux utilisateurs de connecter rapidement et facilement différents instruments et PC, tels que les manomètres, les thermocouples et les oscilloscopes. En conclusion, TSK UF 3000 EX est un prober polyvalent et fiable qui offre des performances exceptionnelles et une flexibilité pour sonder les composants IC sur le marché. Ses capacités de micro-positionnement de haute précision, combinées à sa conception conviviale, permettent aux ingénieurs de test de semi-conducteurs de cerner rapidement et facilement les problèmes de performance critiques avec les composants IC. De plus, sa conception modulaire et ses interfaces mécaniques standard permettent aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement leurs configurations de test pour s'adapter à différentes conceptions d'IC.