Occasion ACCRETECH / TSK UF 300A #136391 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 300A est un prober conçu spécifiquement pour l'analyse de surface de dispositifs semi-conducteurs modernes tels que les circuits intégrés (IC). TSK UF300A est un équipement de bureau entièrement automatisé qui fournit une analyse très fiable, précise et répétable des surfaces des semi-conducteurs. Le système dispose d'un positionnement automatisé des échantillons, d'un étalonnage automatique et de matériel et de logiciels intégrés qui le rendent facile à utiliser et à entretenir. ACCRETECH UF-300A est un capteur de pression variable qui combine la pression d'air et l'analyse de surface. Le dispositif est équipé d'un microscope optique inversé, qui amène la surface de l'échantillon à l'unité d'imagerie dispersive. Le microscope optique fonctionne comme un détecteur en temps réel, donnant à l'utilisateur des aperçus en temps réel des caractéristiques microscopiques et des éléments à la surface de l'échantillon. ACCRETECH UF 300 A utilise une machine autofocus à grande vitesse, qui ajuste constamment la focalisation sur la surface de l'échantillon afin de mesurer avec précision et précision ses dimensions. Cet outil d'autofocus à grande vitesse optimise également la capacité du prober à résoudre rapidement la topographie de surface. Un moteur piézo-électrique est utilisé pour fournir un contrôle moteur fin, ce qui permet à l'actif de scanner précisément la surface de l'échantillon. Le modèle de contrôle intégré UF 300A permet à l'utilisateur d'automatiser l'ensemble du processus d'analyse des échantillons. Cet équipement fournit à l'utilisateur des capacités complètes de collecte et d'analyse de données, y compris la précision des mesures, la répétabilité et le positionnement automatisé des échantillons. Le logiciel PC intégré aide davantage dans le processus d'analyse des données des résultats de l'utilisateur, leur donnant une image précise et complète des propriétés de surface de l'échantillon. UF-300A est un outil nécessaire pour l'analyse de surface des dispositifs semi-conducteurs modernes. Ses caractéristiques et capacités le rendent particulièrement adapté à l'analyse des caractéristiques microscopiques d'un échantillon. Son système de contrôle intégré et son positionnement automatisé des échantillons facilitent le processus, améliorant encore la précision et la cohérence des résultats. Ainsi, ACCRETECH/TSK UF-300A fait de l'analyse de surface des dispositifs semi-conducteurs modernes un processus fiable et précis.