Occasion ACCRETECH / TSK UF 300A #9189902 à vendre en France

ACCRETECH/TSK UF 300A est un équipement avancé conçu pour le test et la mesure des échantillons de semi-conducteurs. Le système offre un degré accru de précision et de fiabilité pour le test des transistors et des circuits intégrés (IC). TSK UF300A utilise un contrôleur alpha-numérique (ANC) pour améliorer la précision du contrôle et de la mesure. Il est équipé d'un moniteur LCD couleur 8 pouces, fournissant un guide visuel des opérations du prober. ACCRETECH UF-300A est également équipé d'une interface d'analyse de données (DAI) pour permettre l'analyse de données et le test interactif d'appareils avec des échantillons complexes. ACCRETECH UF300A est conçu avec une Résidence Palatiale Haute (HPR) qui est capable de produire des conditions de test automatisées pour permettre de sonder des échantillons de petites et de grandes échelles. Il est également équipé d'un mandrin à vide intégré pour sécuriser l'échantillon en place, empêcher le mouvement lors de la sonde et assurer une résolution de test optimale. UF300A offre une surface de sonde optimisée de 522,5 x 298 mm, obtenant une résolution de coordonnées maximale de 0,25 um. La précision de UF 300A est assurée par sa fonction de voie thermique minimisée (MTP). Cette fonction permet de maintenir une température constante lors des essais et des mesures, réduisant ainsi la dérive du signal et le bruit de l'unité. En outre, UF-300A offre un mécanisme de sonde sans contact, qui permet de tester des échantillons non conducteurs jusqu'à une hauteur de 50 mm sans appliquer de force de sonde. Ceci réduit le risque d'endommager l'échantillon testé, en raison des efforts de contact ou mécaniques. La machine est également équipée d'un faisceau laser Query Short et de capacités Back Scatter Auto Focus pour améliorer la précision des sondes sans contact. TSK UF-300A dispose d'un logiciel orienté vers l'automatisation et la facilité d'utilisation. Il est programmé avec un ensemble d'algorithmes destinés à faciliter les tests et les processus de mesure. En outre, il prend en charge plusieurs langages de programmation dont Visual Basic, C # et LabVIEW, offrant une flexibilité pour l'automatisation. L'UF 300 A est un outil très efficace et avancé pour tester et mesurer une large gamme d'échantillons de semi-conducteurs. Il offre un contrôle amélioré, la précision, et la fiabilité pour une variété de fins d'essai.