Occasion ACCRETECH / TSK UF 300A #9363120 à vendre en France

ACCRETECH / TSK UF 300A
Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 300A
ID: 9363120
Style Vintage: 2002
Wafer prober 2002 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300A est un prober conçu pour la recherche et le test précis et de haute précision de petites pièces. Il est capable de sonder et de tester des pièces de 0,3 à 100 mm. TSK UF300A dispose d'un équipement de mesure avancé pour détecter avec précision les changements de sonde et y répondre avec une précision de 1 μ m. Il est adapté à un large éventail d'applications de sondes et de tests, y compris le contrôle de la matrice, l'analyse des défaillances, le contrôle des processus et la mesure sans contact. Le système de mesure ACCRETECH UF-300A se compose d'un étage de haute précision, contrôlé par ordinateur, d'un certain nombre de supports de sonde, et d'une gamme de cadres de test qui peuvent être personnalisés en fonction d'une variété de scénarios de test. L'étage a une grande surface de travail jusqu'à 200mm x 200mm, et une précision de positionnement de 1 μ m. Le mouvement très précis de l'étage est entraíné par un moteur d'asservissement linéaire à haute résolution et des codeurs linéaires et angulaires sans contact. Cela permet un positionnement précis et une exploration transparente sur toute la surface. Les supports de sonde permettent le contrôle précis des pointes de sonde, en prévoyant des caractéristiques telles que le réglage précis et répétable de la position de pointe de sonde, le montage de sondes multiples, et le réglage précis de la force de sonde. Les cadres de test fournissent une scène de test précise et répétable, et permettent de sonder depuis le haut ou le côté avec un seul mouvement, ainsi que de sonder multi-niveaux et multi-angle. UF 300A dispose également d'une unité de mesure intelligente unique pour effectuer avec précision des mesures automatiques sans contact. Il utilise les méthodes de sonde 3D non-contact et non-manipulative de SPM (Scanning Probe Microscopy), LFM (Large Field-of-View Microscopy) et AFM (Atomic Force Microscopy) pour mesurer divers paramètres de partie et de surface tels que la hauteur du pas, l'épaisseur du film, la rugosité de surface et l'angle effilé. Cela permet à TSK UF-300A d'être utilisé dans diverses applications telles que le contrôle de la matrice, l'analyse des défaillances, le contrôle des processus et la mesure sans contact. ACCRETECH/TSK UF-300A dispose également d'un certain nombre de fonctionnalités conviviales, dont un grand écran LCD, une interface graphique facile à utiliser (interface graphique), et une gamme de logiciels optionnels. L'interface graphique permet une saisie et une programmation faciles, et les logiciels optionnels fournissent des fonctions de test supplémentaires. En conclusion, ACCRETECH/TSK UF300A est un prober conçu pour la recherche et le test précis et de haute précision de petites pièces, avec une machine de mesure avancée pour détecter avec précision et répondre aux changements de sonde avec une précision de 1 μ m. Avec son outil de sondes et de mesures sans contact, ses fonctionnalités conviviales et ses logiciels optionnels, ACCRETECH UF 300 A est adapté à un large éventail d'applications de sondes et de tests.
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