Occasion CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 11000 #9209218 à vendre en France

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ID: 9209218
Taille de la plaquette: 8"
Probers, 8" Cold capability With TEMPTRONIC chiller Typical height to eye pieces: 55 cm Platen: Rigdity: <50-Micron (2 mil) for 4.5 kg lateral / Vertical force Z-Litt range: 5.5 mm (0.22") Linear lift Z-Lift repeatability: <2-Micron (0.08 mil) Material: Nickel plated steel Rotary stage: Travel: ±7° Resolution: 1° per Turn Roll-out stage: Travel: 25 cm Chuck: Size: 200 mm Diameter: 150 mm Stations Surface: Gold-plated / Nickel-plated aluminum With provisions for grounding / Biasing X-Y Stage: Travel: 203 mm x 203 mm Resolution: 0.2" Per turn Bearings: Cross-roller Micro chamber: EMI Isolation Light tight Enclosure: Dry air & inert gas purge capable Maximum positioners: (8) DCM (Seven with high-power microscope) / (4) RF Chuck specifications: Flatness: 0.39 mils (10 Microns) Across total surface Isolation & chuck to shield: > 10Ω Auxiliary chucks: Two with Individual vacuum controls Breakdown bias voltage: > 1000 Volts Vacuum distribution area: 13, 75/152 mm (Selectable) Total system planartiy: <20-Mlcron (0.8 mil) across 101 mm Circle: 4" <30-Micron (1.2 mil) across 203 mm Circle: 8".
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 est un prober conçu pour paramétrer, analyser et mesurer des dispositifs semi-conducteurs, des substrats et des circuits sur des plaquettes. Le prober est équipé d'un équipement de contrôle de mouvement de précision qui lui permet de déplacer avec précision la plaquette ou l'échantillon d'un point de mesure à l'autre. ALESSI Summit 11000 combine un étage XYZ avec un inclinomètre triple axe pour un alignement et un contrôle de mouvement précis. Il comporte également une fonction de nivellement vertical pour améliorer l'alignement de l'échantillon avec les aiguilles. Le prober dispose d'un système d'imagerie haute résolution et dynamique qui se compose de caméras de temps de réponse rapide, capture d'image, contrôle de l'éclairage et algorithmes auto-focus. Cette unité d'imagerie est conçue pour améliorer la cartographie des plaquettes, l'alignement automatisé des images et la double exposition. CASCADE MICROTECH Summit 11000 comprend également un processus de sondage automatisé optimisé qui permet de mesurer les résistances de contact, les points de test et les connexions externes. Le prober est alimenté par une interface graphique basée sur Windows et peut s'intégrer avec d'autres outils comme Waferhound, Spike, et Configure & Connect. Avec Waferhound, les utilisateurs peuvent rapidement acquérir des données significatives pour le débogage et l'analyse. Spike permet l'enregistrement automatisé de l'état du prober. Configure & Connect permet un accès à distance et sécurisé au prober sur le réseau. Le sommet 11000 peut également être configuré pour différents types de mesures, y compris la résistance à la feuille, la résistance à la surface, les paramètres du dispositif, les paramètres du substrat et la caractérisation du dispositif. Le réseau de test intégré en option permet des essais multiples d'appareils, la visibilité dans les informations de la matrice et de la sonde, et l'exécution complète des méthodes avancées de caractérisation des appareils. Le prober est conçu pour s'intégrer avec d'autres outils, permettant une intégration avancée avec les outils de test Wafer Level Reliability (WLR). Il peut également encadrer la mesure pour une précision accrue. CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 est destiné à une grande fiabilité et une productivité élevée dans l'industrie des essais de semi-conducteurs. Il dispose de caractéristiques techniques de fiabilité telles qu'une machine intégrée de surveillance de la température, un mécanisme d'alignement répétable et des aiguilles de nettoyage haute résolution. De plus, le prober aide les ingénieurs à réduire le temps de cycle et le coût de production grâce à ses algorithmes de sondes automatisés.
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